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DDR4-16位內(nèi)存條測(cè)試座，導(dǎo)電膠結(jié)構(gòu)

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DDR5內(nèi)存條治具

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DDR4-16位內(nèi)存條測(cè)試座，導(dǎo)電膠結(jié)構(gòu)DDR內(nèi)存條測(cè)試座適用于DDR3,DDR4內(nèi)存條顆粒測(cè)試用于芯片的快速篩選，驗(yàn)證，測(cè)試，采用手動(dòng)翻蓋式結(jié)構(gòu)，操作方便高效.測(cè)試不同尺寸的顆粒，更換限位框即可可選探針和導(dǎo)電膠結(jié)構(gòu)探針可更換，維修方便，成本低

詳細(xì)介紹

適用于DDR3 DDR4 DDR5

用于芯片的快速驗(yàn)證，測(cè)試.

適用于手測(cè)

有探針和導(dǎo)電膠2種導(dǎo)電結(jié)構(gòu)選擇

導(dǎo)正框可更換，多種尺寸兼容

提供8位及16位的測(cè)試治具

測(cè)試座材料： Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530

座頭材料： AL，Cu，POM

探針類型：彈簧探針/導(dǎo)電膠

工作溫度： -45 ~ 125度

探針壽命： 30萬(wàn)次