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更新時間：2023-09-02 18:37:51瀏覽次數(shù)：183次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線產(chǎn)品信息：HG-ES光譜橢偏儀(光伏專用/科研通用兩種應(yīng)用選擇)HG-ES光譜橢偏儀是針對光伏太陽能電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的高性能光譜橢偏儀
HG-ES 光譜橢偏儀
(光伏專用/科研通用兩種應(yīng)用選擇)
HG-ES光譜橢偏儀是針對光伏太陽能電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的高性能光譜橢偏儀。
HG-ES光譜橢偏儀用于測量和分析光伏領(lǐng)域中多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)(如，厚度)和物理參數(shù)(如，折射率n、消光系數(shù)k)，典型樣品包括:絨面單晶和多晶太陽電池上的單層減反膜(如SiNx，Si02，Ti02，A1203等)和多層減反膜(如，SiNx/Si02，SiNx2/SiNx1，SiNx/A1203等)，以及薄膜太陽電池中的多層納米薄膜。
特點(diǎn):
粗糙絨面納米薄膜的高靈敏測量
晶體硅多層減反膜檢測
秒級的快速測量
一鍵式儀器操作
高品質(zhì)相位補(bǔ)償
氙燈光源強(qiáng)度優(yōu)化系統(tǒng)
退偏糾正
自動可變?nèi)肷浣嵌?/p>
背照式CCD光譜采集系統(tǒng)
自動xYZ載物臺、真空吸附
應(yīng)用:
HG-ES光譜橢偏儀的應(yīng)用覆蓋了傳統(tǒng)光譜橢偏儀所測量的光面基底上的單層和多層納米薄膜，典型應(yīng)用包括:半導(dǎo)體(如:介電薄膜、金屬薄膜、高分子、光刻膠、硅、PZT膜，激光二極管GaN和AlGaN、透明的電子器件等)、平板顯示
(TFT、0LED、等離子顯示板、柔性顯示板等)、功能性涂料:(增透型、自清潔型、電致變色型、鏡面性光學(xué)涂層，以及高分子、油類、A1203表面鍍層和處理等)、生物和化學(xué)工程等(有機(jī)薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子層、薄膜吸附、表面改性處理、液體等)。
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