光學(xué)透過(guò)率檢測(cè)機(jī)構(gòu) 測(cè)試實(shí)驗(yàn)中心

清析技術(shù)研究院可出具備CMA/CNAS資質(zhì)的檢測(cè)報(bào)告，是專業(yè)的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，可提供有關(guān)光學(xué)透過(guò)率等檢測(cè)服務(wù)。

檢測(cè)范圍：

光學(xué)器件樣品：包括透鏡、濾光片、反射鏡等光學(xué)元件和器件。

光學(xué)涂層樣品：包括反射膜、抗反射膜、光學(xué)濾光片等涂層材料。

光學(xué)材料樣品：包括玻璃、塑料、晶體等用于光學(xué)領(lǐng)域的材料。

光學(xué)薄膜樣品：包括薄膜光學(xué)元件、光學(xué)薄膜涂層等。

檢測(cè)項(xiàng)目：

透過(guò)率測(cè)量：評(píng)估光線通過(guò)樣品時(shí)被透過(guò)的比例。

波長(zhǎng)依賴性：評(píng)估光學(xué)透過(guò)率隨波長(zhǎng)的變化情況。

反射率測(cè)量：測(cè)量光線在樣品表面的反射率。

吸收率測(cè)量：測(cè)量光線在樣品中被吸收的比例。

散射率測(cè)量：測(cè)量光線在樣品中發(fā)生散射的程度。

偏振特性：評(píng)估光學(xué)透過(guò)率對(duì)不同偏振態(tài)的響應(yīng)。

光學(xué)透明度：評(píng)估樣品的光學(xué)透明度和透光性能。

相關(guān)儀器：

光譜測(cè)量?jī)x：用于測(cè)量樣品在不同波長(zhǎng)下的透過(guò)率和反射率，包括分光光度計(jì)和光譜儀。

透射率測(cè)量裝置：用于測(cè)量樣品的透射率，包括透射率測(cè)量?jī)x和透射光強(qiáng)計(jì)。

反射率測(cè)量裝置：用于測(cè)量樣品的反射率，包括反射率測(cè)量?jī)x和反射光強(qiáng)計(jì)。

散射率測(cè)量裝置：用于測(cè)量樣品中的散射率，包括散射率測(cè)量?jī)x和散射光強(qiáng)計(jì)。

偏振光測(cè)量?jī)x：用于評(píng)估樣品對(duì)不同偏振態(tài)光的透過(guò)率和反射率，包括偏振光測(cè)量?jī)x和偏振光源。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 36403-2018 紅外光學(xué)玻璃紅外透過(guò)率測(cè)試方法 傅里葉變換法

HG/T 5077-2016 光學(xué)功能薄膜 近紅外光譜透過(guò)率的測(cè)量方法

HG/T 5660-2019 光學(xué)級(jí)聚酯薄膜 涂布型防靜電聚對(duì)苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜

ISO 13697-2006 光學(xué)和光子學(xué) 激光和激光設(shè)備 光學(xué)激光器件光學(xué)反射率和規(guī)則透過(guò)率的試驗(yàn)方法

JB/T 9495.3-1999 光學(xué)晶體透過(guò)率 測(cè)量方法

T/IAWBS 008-2019 SiC晶片的殘余應(yīng)力檢測(cè)方法

WJ/T 742-2014 光學(xué)儀器用膠透過(guò)率試驗(yàn)方法

以上是與光學(xué)透過(guò)率檢測(cè)相關(guān)的簡(jiǎn)單介紹，具體試驗(yàn)/檢測(cè)周期、檢測(cè)方法和儀器選擇會(huì)根據(jù)具體的檢測(cè)要求和標(biāo)準(zhǔn)而有所不同。詳情可以咨詢工程師。

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