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TESCAN GAIA3 FIB-SEM雙束電鏡

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更新時間：2024-01-27 10:59:35瀏覽次數(shù)：123次

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上海永傲精密儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

TESCAN GAIA3 FIB-SEM雙束電鏡是一款可以挑戰(zhàn)納米設(shè)計應(yīng)用的理想平臺，它同時具備高精度及微量分析能力。GAIA3 適用于高質(zhì)量超薄 TEM 樣品制備、在技術(shù)節(jié)點(diǎn)減少流程、精確的納米構(gòu)圖或高分辨率的三維重構(gòu)。

詳細(xì)介紹

GAIA3 是一款可以挑戰(zhàn)納米設(shè)計應(yīng)用的理想平臺，它同時具備高精度及微量分析能力。GAIA3 適用于高質(zhì)量超薄 TEM 樣品制備、在技術(shù)節(jié)點(diǎn)減少流程、精確的納米構(gòu)圖或高分辨率的三維重構(gòu)。

這些特征使得 GAIA3 成為低能電子束成像應(yīng)用的理想工具，保留易受電子束損壞的樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu)，如低介電常數(shù)材料、光阻材料及未涂覆生物樣品。在樣品改性方面，GAIA3 也代表了挑戰(zhàn)納米加工的適合解決方案。