硬盤芯片-60℃~+150℃ 冷熱沖擊試驗(yàn)箱

用途：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)***的測試設(shè)備，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。

硬盤芯片-60℃~+150℃ 冷熱沖擊試驗(yàn)箱

控制系統(tǒng)：

主控制器采用進(jìn)口日本"OYO"雙回路***液晶顯示觸摸按鍵溫度控制器。該控制器采用液晶顯示觸摸屏，可顯示設(shè)定參數(shù)、試驗(yàn)曲線、運(yùn)行時間、加熱器工作狀態(tài)，PID參數(shù)自整定功能?？刂瞥绦虻木幹撇捎萌藱C(jī)對話方式，僅需設(shè)定溫度，就可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動運(yùn)行功能?？刂葡到y(tǒng)具備完善的檢測裝置能自動進(jìn)行詳細(xì)的故障顯示。報(bào)警，配置485通訊接口及運(yùn)行軟件。設(shè)定精度:溫度:0.1℃ 時間:Is用戶程序容量:10×99段。運(yùn)行方式:程序運(yùn)行，恒定運(yùn)行。獨(dú)立超溫保護(hù)儀表。設(shè)備工作時間累計(jì)計(jì)時器。低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時間小于等于15秒。 溫度恢復(fù)時間小于等于5

技術(shù)參數(shù)

1.溫度范圍：-40℃～150℃(D)

2.濕度范圍：30%～98%R.H（溫度在25℃～95℃）

3.溫度均勻度：≤±2℃  （空載時）

4.濕度均勻度：+2%  -3%R.H

5.溫度波動度：≤±0.5℃ （空載時）

6.濕度波動度：±2%

7.溫度偏差：≤±2℃

8.濕度偏差：≤±2%

9.降溫速率：0.7～1.0℃/min

10.升溫速率：1.0～3.0℃/min

11.時間設(shè)定范圍：0～999 小時

12.電源電壓：380V±10%

13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

性能

溫度范圍：-20℃～+150℃-40℃～+150℃-60℃～+150℃-70℃～+150℃

溫度波動度：±0.5℃

溫度偏差：≤ ±2.0℃

升溫時間：-20→+150℃≤ 35分鐘（約3℃/min）

降溫時間：+20→-20℃≤45分鐘（約1.2℃/min）