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廣東汕頭超聲電子股份有限公司超聲儀器分公司
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廣東汕頭超聲電子股份有限公司超聲儀器分公司
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更新時(shí)間：2024-11-04 13:32:06瀏覽次數(shù)：12次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線本成像系統(tǒng)采用汕頭超聲公司自主研發(fā)多通道超聲采集卡CTS-04PC、超聲探頭并結(jié)合日本三菱高精度導(dǎo)軌系統(tǒng)的多軸掃描裝置。
本成像系統(tǒng)采用汕頭超聲公司自主研發(fā)多通道超聲采集卡CTS-04PC、超聲探頭并結(jié)合日本三菱高精度導(dǎo)軌系統(tǒng)的多軸掃描裝置。探傷方法包括全水浸縱波反射法、水浸對(duì)射法，能夠?qū)Π?、管、棒、盤環(huán)件等形狀的零部件進(jìn)行檢測，可檢測的材料包括鋼、鋁合金、鈦合金、有色金屬、復(fù)合材料等，設(shè)備具有A、B、C、F掃描成像功能，可準(zhǔn)確檢測材料內(nèi)部細(xì)小缺陷、焊接質(zhì)量及對(duì)組織不均勻進(jìn)行評(píng)價(jià)。系統(tǒng)還可以配接汕頭超聲公司自主研發(fā)的CTS-2108超聲相控陣儀器，實(shí)現(xiàn)超聲相控陣C掃檢測，實(shí)現(xiàn)更高的檢測效率及精度。
平臺(tái)整體框架由高強(qiáng)度鋁型材搭建，可滿足平臺(tái)工作需求。
X、Y、Z運(yùn)動(dòng)模塊可保證探頭完成復(fù)雜、立體的掃查軌跡需求。
A、B軸探頭微調(diào)模塊可滿足聲軸微調(diào)，消除探頭制造誤差，保證聲軸線工件垂直。水浸槽參數(shù)（尺寸、工件固定方式、多通道探頭架等）可根據(jù)客戶要求定制。
TOYO直線運(yùn)動(dòng)組件采用高精度滾珠絲桿和精密直線導(dǎo)軌制作，運(yùn)行平穩(wěn)，可得到接近零間隙的回程誤差。配合17位編碼精度的三菱交流伺服系統(tǒng)，提供數(shù)控加工級(jí)的運(yùn)動(dòng)特性；前后行程開關(guān)保證系統(tǒng)安全。
簡單的設(shè)置即可實(shí)現(xiàn)精確軌跡控制。
手控面板方便調(diào)試，可提供各軸單獨(dú)調(diào)節(jié)，速度可調(diào)，急停按鈕保證機(jī)器安全。
采用Adlink（中國臺(tái)灣研華）8軸運(yùn)動(dòng)控制卡，可實(shí)現(xiàn)各軸硬件直線，圓弧插補(bǔ)，精確控制運(yùn)動(dòng)軌跡。
采用CTS-04PC是基于PCI總線的多通道超聲探傷卡，每卡具有4個(gè)超聲波通道。通過多卡擴(kuò)展，與工業(yè)計(jì)算機(jī)靈活地組合成4通道、8通道、12通道或16通道等多通道超聲波探傷系統(tǒng)。20KHz脈沖重復(fù)頻率，方波激勵(lì)、發(fā)射電壓可達(dá)400V，程控可調(diào)、硬件DAC補(bǔ)償，卡與卡之間發(fā)射時(shí)序可同步控制、任意組合，可自定義發(fā)射間隔，缺陷A掃描波形可實(shí)時(shí)存儲(chǔ)。。
系統(tǒng)配置可根據(jù)選配超聲采集卡不同選擇不同規(guī)格探頭搭配使用。
本公司提供檢測工藝定制服務(wù)并根據(jù)檢測工藝定制探頭。
目前公司可提供的標(biāo)準(zhǔn)探頭產(chǎn)品如下：
水浸式探頭（平面）
| 頻率(MHZ) | 晶片直徑(mm) | 型號(hào)* | 插座 |
| 1.25 | 20 | 1.25P20 | Q9 |
| 2.5 | 6 | 2.5P6 | |
| 14 | 2.5P14 | ||
| 20 | 2.5P20 | ||
| 25 | 2.5P25 | ||
| 5 | 6 | 5P6 | |
| 8 | 5P8 | ||
| 12 | 5P12 | ||
| 14 | 5P14 | ||
| 20 | 5P20 | ||
| 8 | 5N8 | ||
| 14 | 5N14 | ||
| 10 | 6 | 10P6 | |
| 8 | 10P8 | ||
| 12 | 10P12 | ||
| 6 | 10N6 |
*探頭型號(hào)中N為窄脈沖探頭。
水浸式探頭（點(diǎn)聚焦）
| 頻率(MHZ) | 晶片直徑(mm) | 型號(hào)* | 插座 |
| 2.5 | 10 | 2.5P10 F** | 水浸式探頭， 帶探頭線， 直接連接到儀器 |
| 14 | 2.5P14 F** | ||
| 20 | 2.5P20 F** | ||
| 5 | 10 | 5N10 F** | |
| 14 | 5N14 F** | ||
| 10 | 10 | 10N10 F** | |
| 10 | 10P10 F** |
*探頭型號(hào)中N表示窄脈沖探頭。
**F 客戶的水中焦距值。
其他頻率、晶片大小的點(diǎn)聚焦探頭接受定制。
水浸式探頭（線聚焦）
| 頻率(MHZ) | 晶片直徑(mm) | 型號(hào)* | 插座 |
| 5 | 10 | 2.5P10 F** | 水浸式探頭， 帶探頭線， 直接連接到儀器 |
| 10 | 2.5P10 F** | ||
| 10 | 2.5P10 F** | ||
| 5 | 10 | 2.5P10 F** | |
| 10 | 2.5P10 F30 | ||
| 10 | 2.5P10 F40 | ||
| 10 | 2.5P10 F50 |
**F 客戶的水中焦距值。
P，N分別代表不同材料晶片。其他頻率、晶片大小、焦距的線聚焦探頭接受定制。
我公司還可定做復(fù)合材料晶片探頭以滿足高縱向分辨率應(yīng)用場合。
1、總體
1）超聲C掃描成像系統(tǒng)采用一體化結(jié)構(gòu)，即用超聲發(fā)射采集板卡+計(jì)算機(jī)控制；自動(dòng)掃查方式，軸驅(qū)動(dòng)：三維x/y/z軸掃查、工件旋轉(zhuǎn)；另探頭角度需要在上、下、左、右四個(gè)方向有微動(dòng)調(diào)整。
2）可進(jìn)行手動(dòng)操作（調(diào)整）和自動(dòng)操作檢測。
3）能實(shí)現(xiàn)柱狀、盤類、板類零件、復(fù)合材料、鋼（包括鈦合金）、有色金屬等材料內(nèi)部缺陷、焊接缺陷等的A掃描成像和C掃描成像；并具備成像結(jié)果輸出、打印、存儲(chǔ)功能。
3）能對(duì)C掃描成像上的缺陷進(jìn)行精確定位和標(biāo)定缺陷尺寸大??；并能將結(jié)果輸出、打印、存儲(chǔ)。
4）該系統(tǒng)主要用于科研，需要備編程控件、應(yīng)用軟件功能擴(kuò)展接口，方便用戶科學(xué)研究活動(dòng)。
5）系統(tǒng)的穩(wěn)定性好。
2、探傷儀部分
| 探傷通道數(shù) | 1～2通道（2通道都位于Z軸上） |
| 脈沖重復(fù)頻率 | >15kHz |
| 探傷儀帶寬 | 0.5MHz～15MHz |
| 增益范圍（衰減量） | 0～110dB，每步0.1dB、1dB、2dB、6dB |
| DAC | 各通道具備獨(dú)立硬件DAC補(bǔ)償，補(bǔ)償精度：0.3mm，補(bǔ)償后靈敏度平坦度優(yōu)于1dB |
| 水平線性 | 0.5% |
| 垂直線性 | 3% |
| 靈敏度余量 | ≥52dB |
| 分辨力 | 30dB |
| 信噪比 | 對(duì)φ3平底孔優(yōu)于10db |
| 數(shù)據(jù)傳輸方式 | 數(shù)字化傳輸測量值數(shù)據(jù)到C掃描軟件 |
| 閘門 | 1個(gè)動(dòng)態(tài)跟蹤界面閘門，1個(gè)底波閘門，2～4個(gè)探傷閘門 |
3、自動(dòng)掃查單元
1）X、Y、Z三維掃查裝置：
掃描行程：≥1000mm×800mm×500mm
探傷速度：X:0～200mm/s（可調(diào)速）、Y:0～100mm/s（可調(diào)速)、Z:0～100mm/s（可調(diào)速）
重復(fù)定位精度：（X/Y/Z：≤±0.05mm/300mm）
最小步長：X/Y/Z≤0.03mm（可調(diào)）
2）旋轉(zhuǎn)軸：0-360°連續(xù)旋轉(zhuǎn)（正反轉(zhuǎn)），轉(zhuǎn)速15RPM ，重復(fù)定位精度±0.1",最小步長
≤±0.1°；
3）探頭角度微調(diào)：探頭角度需要在上、下、左、右四個(gè)方向有微動(dòng)調(diào)整（自動(dòng)調(diào)整）；
4）水槽尺寸：1000mm×800mm×600mm；
5）承重：大于100Kg。
4、軟件部分功能
1）有掃查路徑設(shè)計(jì)、掃查運(yùn)動(dòng)控制，超聲檢測參數(shù)的設(shè)定界面；
2）實(shí)時(shí)顯示A掃描，C掃描和F掃描成像結(jié)果、并配備掃描結(jié)果離線分析軟件；
3）可對(duì)缺陷信息大?。娣e、長度測量）、位置、數(shù)量等進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析；
4）軟件支持Windows XP、Windows 7等操作系統(tǒng)，并可使用VC++、C++Builder、VB等開發(fā)工具進(jìn)行二次開發(fā)。
總體界面
F掃描功能界面
下圖中左上為C掃，右下為十字光標(biāo)所在位置的A掃，右上、左下分別為光標(biāo)豎線和橫線所指示位置的B掃圖形。從B掃圖中可以明顯看出試塊上文字所在的深度。將范圍設(shè)置到對(duì)應(yīng)深度（兩條白線之間）可以得到對(duì)應(yīng)的C掃圖像。
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