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三輪測(cè)試儀行業(yè)*

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更新時(shí)間：2018-02-16 15:59:12瀏覽次數(shù)：296次

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  IC卡三輪測(cè)試儀

電子標(biāo)簽測(cè)試儀

電子標(biāo)簽彎曲扭曲性能綜合測(cè)試裝置

IC卡三輪測(cè)試儀

IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)

IC卡彎扭檢測(cè)儀

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優(yōu)鴻測(cè)控技術(shù)（上海）有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試

詳細(xì)介紹

三輪測(cè)試儀行業(yè)*、三輪測(cè)試儀專業(yè)制造商、三輪測(cè)試儀價(jià)格，三輪測(cè)試儀生產(chǎn)廠家

一、三輪測(cè)試儀介紹：

UHIC三輪測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試，適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試，將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間，將芯片在三個(gè)鋼制滾輪間循環(huán)測(cè)試100次，芯片前方滾動(dòng)50次，芯片后方滾動(dòng)50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，并在芯片上加一個(gè)8N的力，經(jīng)過(guò)往復(fù)循環(huán)測(cè)試后驗(yàn)證ICC觸點(diǎn)芯片功能是否正常。測(cè)試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)*的測(cè)試。優(yōu)鴻試驗(yàn)機(jī)咨詢：楊工：yhck_ ：

二、三輪測(cè)試儀主要技術(shù)參數(shù)：

1、三輪測(cè)試儀型號(hào)：UHICC
2、測(cè)試輪循環(huán)次數(shù)：前后循環(huán)各50次
3、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考: Mcd
4、CQM測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考: P-22
5、測(cè)試方法參考: 10.3.22
6、CQM: 6.1.11- -
7、電源: 110-220 V 50/60 Hz.
8、測(cè)試廠家：優(yōu)鴻測(cè)控技術(shù)
9、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17554. 3-2006

關(guān)鍵詞：芯片試驗(yàn)機(jī)