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芯片三輪檢測儀

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  IC卡三輪測試儀

電子標(biāo)簽測試儀

電子標(biāo)簽彎曲扭曲性能綜合測試裝置

IC卡三輪測試儀

IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)

IC卡彎扭檢測儀

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  優(yōu)鴻

優(yōu)鴻測控技術(shù)（上海）有限公司

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產(chǎn)品簡介

適用于對識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測試

詳細(xì)介紹

芯片三輪循環(huán)試驗(yàn)機(jī)、芯片三輪測試儀，芯片三輪檢測儀，芯片三輪試驗(yàn)機(jī)，芯片三輪測試儀制造

一、芯片三輪測試儀介紹：
UHIC三輪測試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對卡進(jìn)行三輪測試，適用于對識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測試，將芯片卡放在機(jī)器測試滾輪之間，將芯片在三個(gè)鋼制滾輪間循環(huán)測試100次，芯片前方滾動(dòng)50次，芯片后方滾動(dòng)50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，并在芯片上加一個(gè)8N的力，經(jīng)過往復(fù)循環(huán)測試后驗(yàn)證ICC觸點(diǎn)芯片功能是否正常。測試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)*的測試。
二、芯片三輪測試儀主要技術(shù)參數(shù)：
1、三輪測試儀型號(hào)：UHICC
2、測試輪循環(huán)次數(shù)：前后循環(huán)各50次
3、測試標(biāo)準(zhǔn)參考: Mcd
4、CQM測試標(biāo)準(zhǔn)參考: P-22
5、測試方法參考: 10.3.22
6、CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2
7、電源: 110-220 V 50/60 Hz.
8、測試廠家：優(yōu)鴻測控技術(shù)
9、外形尺寸（mm）: 長255 ×寬235 ×高285

關(guān)鍵詞：芯片試驗(yàn)機(jī)