沖擊試樣缺口投影儀（CST-50）

功能用途
符合國(guó)標(biāo)GB/T229－2007《金屬材料夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要標(biāo)，是一種專(zhuān)用于檢查夏比V型（深2mm）和U型（深2mm）沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專(zhuān)用光學(xué)儀器。

主要特點(diǎn)
●本設(shè)備是利用光學(xué)投影方法，將沖擊試樣缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V型或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格。

技術(shù)參數(shù)
●放大倍數(shù)：儀器放大倍率：50×
物鏡放大倍率：2.5×
投影物鏡放大倍率：20×
●投影屏直徑：Φ180mm
●工作臺(tái)尺寸：方工作臺(tái)：110×125mm
圓工作臺(tái)：Φ90mm
工作臺(tái)玻璃：Φ70mm
●工作臺(tái)行程：縱向：±10mm
橫向：±10mm
升降：±12mm（無(wú)刻度）
●工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0－360°（無(wú)刻度）
●光源：12V，100W（鹵鎢燈）
●外形尺寸：515×224×603mm
●重量：18kg