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當前位置:山東正義檢測科技有限公司>>超聲波探傷儀>> CSK-IIA系列試塊超聲波試塊 - NB/T47013-2 超聲波檢測設備

超聲波試塊 - NB/T47013-2 超聲波檢測設備

參  考  價:640 - 960
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號

    CSK-IIA系列試塊

  • 品牌

    其他品牌

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)商

  • 所在地

    濟寧市

規(guī)格

CSK-IIIA試塊 960元 1000件可售

翻轉(zhuǎn)架 660元 1000件可售

普通牌 640元 999件可售

更新時間:2024-05-26 14:19:35瀏覽次數(shù):1564次

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測量范圍 6mm~200mm 加工定制
該類試塊依據(jù)承壓設備I型焊接接頭超聲檢測要求而設計,適用于將斜探頭、直探頭檢測工件厚度范圍為6mm~200mm的Ⅰ型焊接接頭。試塊設計內(nèi)容見下表:

CSK-IIA系列試塊 - NB/T47013-2015 承壓設備無損檢測超聲波探傷

該類試塊依據(jù)承壓設備I型焊接接頭超聲檢測要求而設計,適用于將斜探頭、直探頭檢測工件厚度范圍為6mm~200mm的Ⅰ型焊接接頭。試塊設計內(nèi)容見下表:

縱波靈敏度設定:將選用已校驗好的直探頭置于示意圖中g位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,。探頭置于示意圖中h位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第二點。探頭置于示意圖中i位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第三點。探頭置于示意圖中j位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第四點。探頭置于示意圖中k位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第五點。探頭置于示意圖中L位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第六點。將以上六點連成一條曲線即為標準中規(guī)定的基準線,此時的靈敏度即為基準靈敏度。CSK-ⅡA-1#測試方法:(1)橫波靈敏度的設定:將選用已校驗好的的斜探頭置于示意圖中a位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為點。探頭置于示意圖中b位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第二點。探頭置于示意圖中c位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第三點。探頭置于示意圖中d位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第四點。探頭置于示意圖中e位置,前后移動探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第五點。探頭置于示意圖中f位置,前后移動探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第六點。將以上六點連成一條曲線即為標準中規(guī)定的基準線。

CSK-ⅡA-2#測試方法:1)橫波靈敏度的設定:將選用已校驗好的的斜探頭置于示意圖中a位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為點。探頭置于示意圖中b位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第二點。探頭置于示意圖中c位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第三點。探頭置于示意圖中d位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第四點。探頭置于示意圖中e位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第五點。探頭置于示意圖中f位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第六點。探頭置于示意圖中g(shù)位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第七點。探頭置于示意圖中h位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第八點。探頭置于示意圖中i位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第九點。探頭置于示意圖中j位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第十點。將以上十點連成一條曲線即為標準中規(guī)定的基準線。

試塊
CSK-IA
試塊支架
CSK-IA
試塊翻轉(zhuǎn)架
CSK-IA
試塊
CSK-ⅡA
試塊
CSK-ⅢA
試塊翻轉(zhuǎn)架
CSK-ⅢA
試塊
CSK-ⅢA
試塊
CSK-IVA
超聲波試塊
CSK-IIAm
GS標準試塊
 
試塊
CSK-IB
試塊支架
CSK-IB
試塊
RB-1
試塊
RB-2
試塊翻轉(zhuǎn)架
RB-2
試塊
RB-3
試塊翻轉(zhuǎn)架
RB-3
試塊
RB-T
試塊
RB-Z
小徑管試塊
DL-1
小徑管試塊
DL-1
平面對比試塊
 
曲面對比試塊
 
荷蘭試塊
V-1(IIW1)
試塊支架
V-1
牛角試塊
V-2(IIW2)
靈敏度試塊
CS-2
超聲波試塊
CS-1-5#
超聲波試塊
LA-1
超聲波試塊
LA-2
試塊
SD-I
試塊
SD-IIa、b
試塊
SD-III
試塊
SD-IV
試塊
TP-1
試塊
TP-2
試塊
TP-3
半圓試塊
SH-1
靈敏度試塊
CS-1
護環(huán)試塊
A
石油標準試塊
SGB1#-6#
階梯試塊(射線用)
 
鋼網(wǎng)架試塊
CSK-IC
鋼網(wǎng)架試塊
RBJ-1
螺栓試塊
LS-1
螺栓試塊
LS-2
TOFD對比試塊
T=15mm
TOFD對比試塊
T=21mm
TOFD對比試塊
T=30mm
TOFD對比試塊
T=43mm
TOFD對比試塊
T=62mm
TOFD對比試塊
T=88mm
TOFD對比試塊
T=122mm
TOFD對比試塊
T=160mm
TOFD對比試塊
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TOFD對比試塊
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TOFD對比試塊
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TOFD對比試塊
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TOFD對比試塊
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TOFD模擬焊縫試塊
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TOFD模擬焊縫試塊
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