| 測量范圍 |
(0.1～199.9×103) μW/cm2 |
加工定制 |
否 |
| 精確度 |
±8％（相對于NIM標準） |
類型 |
紫外 |
| 短期不穩(wěn)定性 |
±1%（開機30min后） |
疲勞特性 |
衰減量<2% |
| 零值誤差 |
滿量程的±1% |
響應時間 |
<1秒 |
| 尺寸和重量 |
160mm×78mm×43mm；0.2kg |
數(shù)字液晶顯示單通道紫外輻照計強度計 探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
數(shù)字液晶顯示單通道紫外輻照計強度計
數(shù)字液晶顯示單通道紫外輻照計強度計
產品介紹
UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
性能特點
1、光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正
2、數(shù)字液晶顯示，帶背光
3、手動/自動量程切換
4、數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
5、低電量提醒
6、自動延時關機
7、有數(shù)字保持
8、輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
技術參數(shù)
項目 | 參數(shù)(探頭二選一，單通道） |
波長范圍λ1，峰值波長λp | （320～400）nm，λP＝365nm |
波長范圍λ2，峰值波長λp | （375～475）nm，λP＝420nm |
輻照度測量范圍 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 |
紫外帶外區(qū)雜光 | 0.02% |
相對示值誤差 | ±8％（相對于NIM標準） |
角度響應特性 | ±5% （α≤10°） |
線性誤差 | ±1% |
換檔誤差 | ±1% |
短期不穩(wěn)定性 | ±1%（開機30min后） |
疲勞特性 | 衰減量<2% |
零值誤差 | 滿量程的±1% |
響應時間 | <1秒 |
使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH |
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
電源 | 6F22型9V積層電池（非充電電池） |
整機功耗 | ＜0.1VA |
配置清單 | 主機、365或420探頭二選一、數(shù)據(jù)線、探頭蓋、說明書、9V電池等 |
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