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面銅測(cè)厚儀CMI165

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更新時(shí)間：2022-08-22 15:12:12瀏覽次數(shù)：216次

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深圳市譜賽斯科技有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

儀器特點(diǎn)：

詳細(xì)介紹

CMI165表面銅測(cè)試儀

帶溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)厚儀手持式面銅測(cè)厚儀

牛津儀器CMI165系列用于測(cè)試高/低溫的PCB銅箔、蝕刻或整平后的銅厚定量測(cè)試、電鍍銅后的面銅厚度測(cè)量，在PCB鉆孔、剪裁、電鍍等工序前進(jìn)行相關(guān)銅箔來(lái)料檢驗(yàn)。

儀器特點(diǎn)：

l應(yīng)用*的微電阻測(cè)試技術(shù)，符合EN14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。SRP-T1探頭由四支探針組成，AB為正極CD為負(fù)極；測(cè)量時(shí)，電流由正極到負(fù)極會(huì)有微小的電阻，通過(guò)電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚，不受絕緣板層和線路板背面銅層影響

l耗損的SRP-T1探頭可自行更換，為牛津儀器產(chǎn)品

l儀器的照明功能和SRP-T1探頭的保護(hù)罩方便測(cè)量時(shí)準(zhǔn)確定位

l儀器具有溫度補(bǔ)償功能，測(cè)量結(jié)果不受溫度影響

l儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)

l測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)USB2.0 實(shí)現(xiàn)高速傳輸，可保存為Excel文件

l儀器使用普通AA電池供電