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日本kett凱特內(nèi)置打印機(jī)膜厚計(jì) 涂層測厚儀
日本kett凱特內(nèi)置打印機(jī)膜厚計(jì)內(nèi)置打印機(jī)的膜厚計(jì)較好型號塊/組統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能新開發(fā)的探頭（另售）
型號： L-500 所在地：深圳市參考價(jià)： ￥22222 更新時(shí)間：2024/5/17 15:18:48 對比

高級膜厚計(jì)涂層膜厚計(jì)內(nèi)置打印機(jī)膜厚計(jì)便攜式膜厚計(jì)電磁感應(yīng)或渦流膜厚計(jì)
全內(nèi)反射熒光X射線分析儀OURSTEX 200TX
全內(nèi)反射熒光X射線分析儀OURSTEX 200TX● 堪比ICP/原子吸收系統(tǒng)的高靈敏度　● 總重量，僅8kg　● 可以從 ppm 分析 ppb 級　● 無需液...
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 21:38:43 對比

便攜式X射線分析儀電阻式膜厚計(jì)日本filmetrics
ourstex在線膜厚分析儀OURSTEX100TA-F
ourstex在線膜厚分析儀OURSTEX100TA-F介紹利用我們的無損分析技術(shù)的在線膜厚分析儀。
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 21:36:27 對比

在線膜厚計(jì)電阻式膜厚計(jì)日本filmetrics
日本NDK袖珍型超聲波測厚儀UDM-960
日本NDK袖珍型超聲波測厚儀UDM-9601臺(tái)標(biāo)配相當(dāng)于3臺(tái)的BB、SB、TB 3種測量方式，可根據(jù)用途進(jìn)行廣泛的測量。
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 16:58:19 對比

薄膜測厚儀塑料測厚儀
日本NDK超聲波測厚儀UDM-750/750DL
日本NDK超聲波測厚儀UDM-750/750DL可以使用標(biāo)準(zhǔn)探頭測量 0.8 mm 的厚度，使用標(biāo)準(zhǔn)探頭測量0.8 mm和使用薄板探頭（選項(xiàng)）從 0.4 mm ...
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 16:56:39 對比

薄膜測厚儀塑料測厚儀
日本NDK超聲波測厚儀UDM-550V
日本NDK超聲波測厚儀UDM-550V金屬/玻璃/樹脂的厚度測量板/容器/管模制品的厚度測量
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 16:54:19 對比

薄膜測厚儀塑料測厚儀
日本nanogray熱釋光測厚儀TL-2000
日本nanogray熱釋光測厚儀TL-2000熱釋光（TL）法是利用附著在食品上的硅酸鹽礦物通過γ射線照射而儲(chǔ)存的能量，是基于加熱時(shí)釋放出光的現(xiàn)象.
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 15:32:41 對比

X射線測厚儀塑料測厚儀
日本nanogray B射線測厚儀SB-1100
日本nanogray B射線測厚儀SB-1100這是使用β射線（β射線）的測厚儀（薄膜測厚儀）。以非接觸方式（β射線）測量片材和板狀物體的厚度和密度（基重）。
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 15:30:53 對比

X射線測厚儀塑料測厚儀
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100測厚儀（薄膜測厚儀）使用軟X射線（soft X-rays）。
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 15:29:15 對比

X射線測厚儀塑料測厚儀
日本ewig便攜式超聲波測厚儀 UTM-110 / 210
日本ewig便攜式超聲波測厚儀 UTM-110 / 210UTM-110 / 210 是 1973 年開發(fā)出的一臺(tái)袖珍型超聲波測厚儀的東京計(jì)機(jī)自豪地交付的良好機(jī)...
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:31:00 對比

薄膜測厚儀塑料測厚儀
日本ewig PET瓶水量自動(dòng)測量儀EH-5500W
日本ewig PET瓶水量自動(dòng)測量儀EH-5500W該設(shè)備自動(dòng)測量PET瓶的含水量，并實(shí)時(shí)輸出和匯總數(shù)據(jù)。可通過機(jī)器人的 I/O 信號實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)支持（訂購時(shí)可選...
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:20:52 對比

薄膜測厚儀塑料測厚儀
日本ewig瓶坯自動(dòng)測厚儀EH-8000
日本ewig瓶坯自動(dòng)測厚儀EH-8000它是一種自動(dòng)測量PET瓶坯厚度并實(shí)時(shí)輸出和匯總數(shù)據(jù)的測量機(jī)。
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:19:20 對比

薄膜測厚儀塑料測厚儀
日本ewig PET瓶自動(dòng)測厚儀PA-2000SA
日本ewig PET瓶自動(dòng)測厚儀PA-2000SA還提供專用軟件，可根據(jù)測量高度改變圓周方向的測量位置。此外，還可以使用原始軟件進(jìn)行一鍵聚合。任何人都可以輕松測...
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:17:11 對比

薄膜測厚儀塑料測厚儀
日本dip coater膜厚計(jì)AFW-100W
日本dip coater膜厚計(jì)AFW-100W推薦使用反射光譜膜厚計(jì)用于膜厚測量應(yīng)用，例如硬涂層。
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 7:41:19 對比

膜厚計(jì)電阻式膜厚計(jì)日本filmetrics
日本filmetrics顯微自動(dòng)膜厚測量系統(tǒng)F54
日本filmetrics顯微自動(dòng)膜厚測量系統(tǒng)F54F54顯微自動(dòng)膜厚測量系統(tǒng)是將微小區(qū)域的高精度膜厚/光學(xué)常數(shù)分析功能與自動(dòng)高速載物臺(tái)相結(jié)合的系統(tǒng)。兼容 2 英...
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 7:37:06 對比

膜厚計(jì)電阻式膜厚計(jì)日本filmetrics
日本filmetrics對準(zhǔn)自動(dòng)膜厚測量系統(tǒng)F60
日本filmetrics對準(zhǔn)自動(dòng)膜厚測量系統(tǒng)F60F60自動(dòng)測繪膜厚測量系統(tǒng)是F50的高精度機(jī)型，具有缺口檢測、自動(dòng)基線功能和互鎖機(jī)制。
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 7:35:23 對比

膜厚計(jì)電阻式膜厚計(jì)日本filmetrics
日本filmetrics自動(dòng)測繪膜厚測量系統(tǒng)F50 測厚儀
日本filmetrics自動(dòng)測繪膜厚測量系統(tǒng)F50F50自動(dòng)測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能與自動(dòng)高速載物臺(tái)相結(jié)合的系統(tǒng)。
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 7:33:32 對比

膜厚計(jì)電阻式膜厚計(jì)日本filmetrics
日本filmetrics F3-sX板厚測量系統(tǒng) 測厚儀
日本filmetrics F3-sX板厚測量系統(tǒng)可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度。通過安裝最初開發(fā)的具有高波長分辨率的光譜儀，可以測量高達(dá) 3 mm 的厚膜...
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 7:31:06 對比

膜厚計(jì)電阻式膜厚計(jì)日本filmetrics
日本反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT 測厚儀
日本反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RTF10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測量系統(tǒng)?？赏瑫r(shí)測量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和...
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 7:28:50 對比

膜厚計(jì)電阻式膜厚計(jì)日本filmetrics
日本filmetrics膜厚測量系統(tǒng)F20 測厚儀
日本filmetrics膜厚測量系統(tǒng)F20一種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、低價(jià)、多功能的臺(tái)式薄膜厚度測量系統(tǒng)，已在全球安裝了 5,000 多臺(tái)。它可用于從研發(fā)到制造現(xiàn)場在線測量的...
型號：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/15 7:26:21 對比

膜厚計(jì)電阻式膜厚計(jì)

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