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日本optiworks非接觸式 3D 測量系統(tǒng)Modular Optical Pen DUO
產(chǎn)品特征
1 實現(xiàn)更精確的表面形狀測量，更寬的測量范圍
除了以前型號中使用的測量方法（“共焦彩色模式"）外，還安裝了一種新的“干涉測量模式"?，F(xiàn)在可以處理更精確的表面形狀測量。兩種模式均可根據(jù)需要的測量精度使用，擴(kuò)展了應(yīng)用范圍。
2 模式控制器
該控制器可用于共焦/彩色模式和干涉測量模式。與之前的型號一樣，系統(tǒng)配置簡單易用，只需根據(jù)所需的測量精度更換筆形模塊即可。
測量原理（干涉測量方式）
從光源發(fā)出的光被測量對象、參考板（參考平面）等反射。此時，兩束反射光之間會產(chǎn)生光程差。如圖所示，將參考板插入待測物體前，使其盡量靠近，當(dāng)光程差進(jìn)入相干長度時，兩束反射光就會發(fā)生干涉。由于這種干涉的光譜強(qiáng)度受波長調(diào)制，因此可以通過同軸顏色校正光學(xué)筆對其進(jìn)行測量和分析，從而實現(xiàn)更精確的厚度測量。
日本optiworks非接觸式 3D 測量系統(tǒng)Modular Optical Pen DUO
產(chǎn)品特征
1 實現(xiàn)更精確的表面形狀測量，更寬的測量范圍
除了以前型號中使用的測量方法（“共焦彩色模式"）外，還安裝了一種新的“干涉測量模式"?，F(xiàn)在可以處理更精確的表面形狀測量。兩種模式均可根據(jù)需要的測量精度使用，擴(kuò)展了應(yīng)用范圍。
2 模式控制器
該控制器可用于共焦/彩色模式和干涉測量模式。與之前的型號一樣，系統(tǒng)配置簡單易用，只需根據(jù)所需的測量精度更換筆形模塊即可。
測量原理（干涉測量方式）
從光源發(fā)出的光被測量對象、參考板（參考平面）等反射。此時，兩束反射光之間會產(chǎn)生光程差。如圖所示，將參考板插入待測物體前，使其盡量靠近，當(dāng)光程差進(jìn)入相干長度時，兩束反射光就會發(fā)生干涉。由于這種干涉的光譜強(qiáng)度受波長調(diào)制，因此可以通過同軸顏色校正光學(xué)筆對其進(jìn)行測量和分析，從而實現(xiàn)更精確的厚度測量。
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