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XRF貴金屬含量分析儀 參考價(jià)：面議
XRF貴金屬含量分析儀無需將檢測(cè)工具探入到被測(cè)樣件的材料中，也不會(huì)損壞被測(cè)樣件，即可獲得樣件的合金化學(xué)成份信息，判斷出樣件的克拉等級(jí)。機(jī)身結(jié)構(gòu)小巧結(jié)實(shí)，外形十分...
貴金屬檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
貴金屬檢測(cè)儀PM-300與火花試金法和化學(xué)試劑測(cè)試法相比，使用XRF對(duì)貴金屬進(jìn)行分析是一種更迅速經(jīng)濟(jì)的多元素檢測(cè)方法。
貴金屬檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
貴金屬檢測(cè)儀PM-550高分辨率、便捷操作、清晰攝像頭、快速檢測(cè)、人性化界面。全觸屏操作，使用方便，單色聚焦X攝像熒光光譜法。
貴金屬分析檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
貴金屬分析檢測(cè)儀PM-650應(yīng)用領(lǐng)域：珠寶制造、質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局、現(xiàn)金黃金兌換、零售行業(yè)、典當(dāng)行/精煉行業(yè)、回收行業(yè)
貴金屬分析儀 參考價(jià)：面議
PM350 Plus貴金屬分析儀使用XRF分析儀對(duì)貴金屬進(jìn)行化學(xué)成分分析及純度成色判斷已成為一種廣泛應(yīng)用、很受歡迎并且具有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的支持且性能可靠的方法。
X熒光光譜貴金屬分析儀 參考價(jià)：面議
X熒光光譜貴金屬分析儀由高能X射線激發(fā)原子電子層，使得原子核外電子發(fā)生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些能量和數(shù)...
貴金屬分析檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
PM-350貴金屬分析檢測(cè)儀與火花試金法和化學(xué)試劑測(cè)試法相比，使用XRF對(duì)貴金屬進(jìn)行分析是一種更迅速、更經(jīng)濟(jì)的多元素檢測(cè)方法。
XRF貴金屬分析儀 參考價(jià)：面議
XRF貴金屬分析儀由高能X射線激發(fā)原子電子層，使得原子核外電子發(fā)生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些能量和數(shù)量，...
礦石分析儀 參考價(jià)：面議
礦石分析儀是佳譜儀器多年研發(fā)，專為有色金屬、黑色金屬、選礦及冶煉、地質(zhì)行業(yè)定制的一款分析儀器。
貴金屬檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
貴金屬檢測(cè)儀目前使用XRF分析儀對(duì)貴金屬進(jìn)行化學(xué)成份分析及純度成色判斷已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎，并且有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的支持，且性能可靠的方法。
貴金屬分析儀 參考價(jià)：面議
PM-450貴金屬分析儀由高能X射線激發(fā)原子電子層，使得原子核外電子發(fā)生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些能量和...
貴金屬分析儀 參考價(jià)：面議
PM-350貴金屬分析儀對(duì)貴金屬進(jìn)行化學(xué)成份分析及純度成色判斷已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎，并且有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的支持，且性能可靠的方法。與火花試金法和化學(xué)試劑測(cè)試...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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