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深圳維爾克斯光電有限公司


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Ce:YAG,Ce:YAP,Ce:LYSO 晶體

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Ce:YAG,Ce:YAP,Ce:LYSO 晶體可以吸收伽馬射線或中子等高能輻射,并將該能量轉(zhuǎn)化為可見(jiàn)光子的短脈沖。立陶宛optogama可以提供此類閃爍晶體,有著機(jī)械阻力和穩(wěn)定性,良好的導(dǎo)熱性,衰減時(shí)間快,不吸濕等特點(diǎn)

詳細(xì)介紹

optogama閃爍晶體,衰減時(shí)間快,穩(wěn)定性高


optogama 提供高質(zhì)量的閃爍晶體,可吸收伽馬射線或中子等高能輻射,并將該能量轉(zhuǎn)化為可見(jiàn)光子的短脈沖。這些晶體具有密度高、運(yùn)行速度快、輻射硬度大、性價(jià)比高等特點(diǎn)。閃爍晶體可用于科研、醫(yī)療和工業(yè)應(yīng)用,可根據(jù)要求提供定制解決方案。

此外,閃爍晶體的訂貨數(shù)量是2件。



Ce:LYSO 晶體

Lu?SiO?: Ce是一種相對(duì)較新的閃爍晶體,因其速度快、機(jī)械強(qiáng)度高和耐化學(xué)性好而聞名。

主要特點(diǎn):

衰減時(shí)間快,光輸出高,機(jī)械阻力和穩(wěn)定性,高密度和抗輻射硬度

應(yīng)用:

斷層掃描系統(tǒng) (PET),醫(yī)療XCT,高能物理,輻射探測(cè)器,石油測(cè)井,安全掃描,伽馬光譜


光譜和熱機(jī)械性能:

密度(g/cm 3)

7.2

熔點(diǎn) (°C)

2050

硬度(莫氏)

5.8

衰減時(shí)間 (ns)

64

有效原子序數(shù)

40-45

發(fā)射峰(nm)

420

光產(chǎn)率(光子/MeV)

29000

光輸出(至 NaI: Tl)

~85%

折射率

1.82

吸濕性

無(wú)


參數(shù)規(guī)格:

尺寸

陣列

長(zhǎng)度

鍍膜

面尺寸公差

長(zhǎng)度公差

SKU

4x4 mm

16

/

無(wú)

+/-0.15

+/-0.15

19587

8 x 8 mm

64

/

無(wú)

+/-0.15

+/-0.15

19588

16 x16 mm

256

/

無(wú)

+/-0.15

+/-0.15

19589



Ce:YAG 晶體

Ce:YAG晶體具有優(yōu)異的機(jī)械性能和耐化學(xué)性,可用于環(huán)境的檢測(cè),并能用薄型屏幕進(jìn)行生產(chǎn)。它還具有很高的發(fā)光效率,其峰值發(fā)射(550nm)可以與硅光電二極管探測(cè)器器件有效耦合。

主要特點(diǎn)

機(jī)械阻力和穩(wěn)定性,良好的導(dǎo)熱性,衰減時(shí)間快,不吸濕

應(yīng)用:

低能輻射和阿爾法粒子檢測(cè),電子和X射線成像屏幕,β和X射線計(jì)數(shù)


光譜和熱機(jī)械性能:


密度(g/cm 3

4.56

熔點(diǎn) (°C)

1970

硬度(莫氏)

8.5

衰減時(shí)間 (ns)

70

有效原子序數(shù)

32

發(fā)射峰(nm)

550

光產(chǎn)率(光子/MeV

15000

光輸出(至 NaI: Tl

40%

折射率

1.82

吸濕性

無(wú)

能量分辨率

<8%



參數(shù)規(guī)格:

尺寸

厚度

鍍膜

表面平整度

表面質(zhì)量

面尺寸公差

長(zhǎng)度公差

SKU

10 x 10 mm

1 mm

無(wú)

L/2

40/20 S/D

+/-0.15

+/-0.15

19562

20 x 20 mm

1 mm

無(wú)

L/2

40/20 S/D

+/-0.15

+/-0.15

19563

10 x 10 mm

1 mm

無(wú)

L/2

40/20 S/D

+/-0.15

+/-0.15

19564

20 x 20 mm

1 mm

無(wú)

L/2

40/20 S/D

+/-0.15

+/-0.15

19565



Ce:YAP晶體

Ce:YAP閃爍體是一種快速、機(jī)械強(qiáng)度高、耐化學(xué)腐蝕的閃爍晶體。其高機(jī)械性能使其能夠進(jìn)行精密加工,并且可以在晶體的入口表面直接沉積一層非常薄的鋁層來(lái)制作入口窗口。

主要特點(diǎn):

機(jī)械阻力和穩(wěn)定性,衰減時(shí)間快,不吸濕

應(yīng)用:

伽瑪和 X 射線計(jì)數(shù),電子顯微鏡,X 射線成像屏幕,斷層掃描系統(tǒng);


光譜和熱機(jī)械性能:

密度(g/cm 3

5.4

熔點(diǎn) (°C)

1875

硬度(莫氏)

8.5

衰減時(shí)間 (ns)

25

發(fā)射峰(nm)

370

光產(chǎn)率(光子/MeV

25000

光輸出(至 NaI: Tl

70%

折射率

1.96

吸濕性

無(wú)

能量分辨率

<5%


參數(shù)規(guī)格:

尺寸

厚度

鍍膜

表面平整度

表面質(zhì)量

面尺寸公差

長(zhǎng)度公差

SKU

10 x 10 mm

1 mm

無(wú)

L/2

40/20 S/D

+/-0.15

+/-0.15

19582

20 x 20 mm

1 mm

無(wú)

L/2

40/20 S/D

+/-0.15

+/-0.15

19586


關(guān)鍵詞:電子顯微鏡

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