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中圖儀器（chotest）三維光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)xSuperviewW1

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x采用的非接觸式測(cè)量方法具有測(cè)量精度高、分析功能強(qiáng)大、測(cè)量參數(shù)齊全以及使用方便等優(yōu)點(diǎn)，加上其的光源模式，保證了它能夠適用于從光滑到粗糙等各種精密器件的表面質(zhì)量檢測(cè)

詳細(xì)介紹

光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x采用的非接觸式測(cè)量方法具有測(cè)量精度高、分析功能強(qiáng)大、測(cè)量參數(shù)齊全以及使用方便等優(yōu)點(diǎn)，加上其的光源模式，保證了它能夠適用于從光滑到粗糙等各種精密器件的表面質(zhì)量檢測(cè)。

中圖儀器的SuperViewW系列三維光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x能夠以?xún)?yōu)于納米級(jí)的分辨率，以非接觸式測(cè)量樣品表面形貌，主要用于表面形貌紋理，微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析，廣泛應(yīng)用于材料，光學(xué)，半導(dǎo)體，精密機(jī)械等等領(lǐng)域。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1.雙通道氣浮隔振系統(tǒng)大幅減小了環(huán)境振動(dòng)的影響，還可以降低高精度量測(cè)時(shí)的噪聲，提高超光滑表面的測(cè)試精度。
2.一體化操作的測(cè)量分析軟件自動(dòng)對(duì)焦樣品表面，自動(dòng)智能配置測(cè)試參數(shù)，使原來(lái)麻煩的“找條紋”，“選擇測(cè)試參數(shù)”過(guò)程，在一分鐘之內(nèi)，自動(dòng)完成。
3.雙重防撞保護(hù)功能，除初級(jí)的軟件ZSTOP設(shè)置Z向位移下限位進(jìn)行防撞保護(hù)外，另在Z軸上設(shè)計(jì)有機(jī)械電子傳感器，當(dāng)鏡頭觸碰到樣品表面時(shí)，儀器自動(dòng)進(jìn)入緊急停止?fàn)顟B(tài)，能保護(hù)樣品和設(shè)備的安全。

SuperViewW系列三維光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x分辨率0.1μm，重復(fù)性0.1%，可為樣品表面測(cè)量提供快速，便捷的非接觸式3D表面形貌測(cè)量解決方案。應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，操作簡(jiǎn)便，可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)?？梢杂糜跍y(cè)試各類(lèi)表面。比如透明的玻璃表面，加上增透膜，其反射率小于1%；也可以用于測(cè)試直至99%反射率的各類(lèi)高反表面。

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào)：SuperView W1系列
產(chǎn)品名稱(chēng)：光學(xué)3D表面輪廓儀
影像系統(tǒng)：1024×1024
光學(xué)ZOOM：0.5×，（0.75×，1×可選）
干涉物鏡：10×，（2.5×，5×，20×，50×，100×可選）
XY平臺(tái)：尺寸320×200mm，行程140×110mm，電動(dòng)、手動(dòng)同時(shí)具備，均為光柵閉環(huán)反饋
Z軸行程：100mm，電動(dòng)
Z向掃描范圍：10mm
Z向分辨率：0.1nm
可測(cè)樣品反射率：0.05%-99%
水平調(diào)整：±5°手動(dòng)
粗糙度RMS重復(fù)性：0.005nm
臺(tái)階高測(cè)量：準(zhǔn)確度0.3%，重復(fù)性0.08% 1σ
主要特點(diǎn)：非接觸式無(wú)損檢測(cè)，一鍵分析、測(cè)量速度快、效率高
生產(chǎn)企業(yè)：深圳市中圖儀器股份有限公司
注釋?zhuān)焊嘣敿?xì)產(chǎn)品信息，請(qǐng)聯(lián)系我們獲取

SuperViewW系列三維光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點(diǎn)的擴(kuò)展型相移算法EPSI，單一模式即可適用于從平面到弧面、超光滑到粗糙等各種表面類(lèi)型，其的3D重建算法，自動(dòng)濾除樣品表面噪點(diǎn)，在硬件系統(tǒng)的配合測(cè)量精度可達(dá)亞納米級(jí)別，讓3D測(cè)量變得簡(jiǎn)單。

深圳市中圖儀器股份有限公司是，致力于精密測(cè)量、計(jì)量檢測(cè)等儀器設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售。
自成立以來(lái)一直以“致力于精密測(cè)量、計(jì)量檢測(cè)等儀器設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售”為使命，在幾何量測(cè)量領(lǐng)域的潛心研究十幾年，如今在微納米運(yùn)動(dòng)設(shè)計(jì)制造、微納米顯微測(cè)量三維重建、顯微測(cè)量3D形貌分析、大尺寸三維空間測(cè)量、精密傳感測(cè)頭、光柵導(dǎo)軌測(cè)控等眾多技術(shù)領(lǐng)域形成了設(shè)計(jì)、制造優(yōu)勢(shì)，具備了從納米到百米為用戶(hù)提供精密測(cè)量解決方案的能力。

關(guān)鍵詞：光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x 輪廓測(cè)量?jī)x 傳感器輪廓儀