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產(chǎn)品型號(hào)JN-XRD200
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
聯(lián)系方式：石經(jīng)理查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間：2022-09-28 18:19:57瀏覽次數(shù)：208次
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簡(jiǎn)要描述：JN-XRD200科研級(jí)X射線衍射儀XRD可以一鍵操作整個(gè)分析過(guò)程僅需數(shù)秒便可完成，操作簡(jiǎn)單，即使非技術(shù)人員也可輕松掌握，使用國(guó)標(biāo)樣品進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)，在衍射角度測(cè)量范圍內(nèi)，全譜范圍內(nèi)所有峰的2θ角度偏差0.02之間，展示了優(yōu)異的角度偏差線性度。
JN-XRD200科研級(jí)X射線衍射儀XRD產(chǎn)品特點(diǎn)
1、一鍵操作整個(gè)分析過(guò)程僅需數(shù)秒便可完成，操作簡(jiǎn)單，即使非技術(shù)人員也可輕松掌握；
2、一鍵即停，給予操作人員充分的靈活性，盡可能地縮短的掃描時(shí)間和提高掃描分辨率；
3、上下推拉門，節(jié)約桌面空間，適合每一公桌，有效提高空間利用率；
4、BenchtopXRD? 高穩(wěn)定性、高精度、高效率；
5、分辨率：國(guó)標(biāo)標(biāo)樣LaB6 搭配高性能探測(cè)器高分辨率模式由測(cè)量顯示 FWHM＜0.04°2θ
6、線性度：使用國(guó)標(biāo)樣品進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)，在衍射角度測(cè)量范圍內(nèi)，全譜范圍內(nèi)所有峰的2θ角度偏差±0.02°之間，展示了優(yōu)異的角度偏差線性度。
7、使用山崳酸銀 (Ag-Behenater)進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量結(jié)果可見(jiàn)儀器精準(zhǔn)的低角度性能。
8、一鍵啟動(dòng)，只需按檢測(cè)按鈕即可快速進(jìn)行測(cè)試分析，操作簡(jiǎn)單，無(wú)需培訓(xùn),即使非技術(shù)人員也可輕松掌握使用方法。
9、設(shè)備配備分析軟件有助于分析測(cè)量、查看數(shù)據(jù)以及轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)，還可以傳輸以及管理，輕松實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)數(shù)據(jù)對(duì)接共享。
10、桌面式XRD具有專業(yè)的多重防護(hù)輻射處理，樣品測(cè)量時(shí)射線防護(hù)門自動(dòng)禁止打開(kāi)，任何情況下都能避免操作人員受到散 射線輻射。
11、支持創(chuàng)建個(gè)人用戶帳戶，允許用戶自由調(diào)整檢測(cè)配置以滿足自身的具體需求，并且可保存配置和批處理編程。
12、采用數(shù)字多道分析技術(shù)，無(wú)需單色器即可分辨出衍射峰和熒光干擾，提高衍射強(qiáng)度；
13、溫度、流量實(shí)時(shí)監(jiān)控，多重安全保護(hù)設(shè)計(jì)，有效提升儀器維護(hù)方式方法，降低儀器維護(hù)成本，延長(zhǎng)儀器使用壽命。
JN-XRD200科研級(jí)X射線衍射儀XRD產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)
1、測(cè)角儀：θ/θ立式測(cè)角儀、衍射圓半徑 150mm；
2、2θ角度范圍：-3 ～ +145°；
3、精度：全譜范圍內(nèi)＜±0.02°偏差；
4、半峰寬FWHM：<0.04°2θ；
5、儀器對(duì)光：無(wú)需對(duì)光；
6、X光管：Cu 或 Co, Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶（可選配）；
7、X射線發(fā)生器：30KV/20mA；
8、X射線管功率：600W；
9、儀器尺寸：580 x 450x 680mm；
10、電源：90-240V 50/60 Hz 0.6KVA；
11、冷卻方式：內(nèi)置水箱冷卻；
12、重量：低于80Kg
13、探測(cè)器：正比計(jì)數(shù)探測(cè)器、SDD探測(cè)器、一維陣列探測(cè)器（可選配）；
14、接口：USB
15、最小步寬：0.0001°；
16、角度重現(xiàn)：0.0005°；
17、單色器：計(jì)數(shù)端單色器，扣除Kβ熒光X射線，提高P/B比；
18、衍射角線性度：小于 0.02°（標(biāo)準(zhǔn)樣品，全譜圖范圍內(nèi)）；
19、角度定位速度：1500°/min；
20、線性計(jì)數(shù)率：≥5×105 cps（正比）
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