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近紅外光譜儀系統(tǒng)

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Polytec 近紅外光譜儀系統(tǒng)(PSS)的設(shè)計(jì)使其可以實(shí)現(xiàn)靈活的配置,可為各種應(yīng)用提供有利的解決方案。 將合適的探頭、光譜儀和軟件進(jìn)行各種組合以滿足不同應(yīng)用的需求。系統(tǒng)使用標(biāo)準(zhǔn)化的組件,以確保在集成過程中的高精度和易用性。PSS系統(tǒng)基于成熟的技術(shù),提供滿足特定應(yīng)用的解決方案,安全且易于集成。

詳細(xì)介紹

概述

從原料檢驗(yàn)到終產(chǎn)品控制,Polytec 近紅外光譜儀系統(tǒng)(PSS)為提高生產(chǎn)過程的經(jīng)濟(jì)效益開創(chuàng)了許多可能性。

 

過程分析的決定性優(yōu)勢(shì)是可實(shí)現(xiàn)對(duì)生產(chǎn)過程的全自動(dòng)化實(shí)時(shí)控制。除了確保產(chǎn)品質(zhì)量的*性外,也可以對(duì)生產(chǎn)過程本身進(jìn)行監(jiān)控和優(yōu)化。過程分析可實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量、低成本且便捷的解決方案,從而實(shí)現(xiàn)快速投資回報(bào)。 該方法可應(yīng)用于不同的生產(chǎn)環(huán)節(jié):進(jìn)貨檢驗(yàn)、過程控制和100%的終端產(chǎn)品分類。許多相關(guān)參數(shù)可以從一次測(cè)量中獲得。例如,定性和定量化學(xué)分析,或者層厚度測(cè)量是典型的應(yīng)用。

 

Polytec 近紅外光譜儀系統(tǒng)(PSS)的設(shè)計(jì)使其可以實(shí)現(xiàn)靈活的配置,可為各種應(yīng)用提供有利的解決方案。 將合適的探頭、光譜儀和軟件進(jìn)行各種組合以滿足不同應(yīng)用的需求。系統(tǒng)使用標(biāo)準(zhǔn)化的組件,以確保在集成過程中的高精度和易用性。PSS系統(tǒng)基于成熟的技術(shù),提供滿足特定應(yīng)用的解決方案,安全且易于集成。

 

實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)應(yīng)用根據(jù)所需的典型測(cè)量和輸出需求而有所不同。 為了在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,我們的軟件包提供了全面測(cè)量功能以實(shí)現(xiàn)快速高效的數(shù)據(jù)采集。對(duì)于工業(yè)在線應(yīng)用,我們提供可配置的解決方案,從細(xì)節(jié)的特定測(cè)量設(shè)置到與過程控制系統(tǒng)進(jìn)行通信。 我們的軟件產(chǎn)品組合還包括由成熟的多元數(shù)據(jù)分析供應(yīng)商提供的一系列兼容軟件包

 

Polytec (PSS)與標(biāo)準(zhǔn)的化學(xué)計(jì)量學(xué)軟件包兼容,便于進(jìn)行光譜測(cè)量的多元數(shù)據(jù)分析。 這些軟件包可以成功用于化學(xué)計(jì)量學(xué)方法的計(jì)算、開發(fā)以及過程分析中的在線預(yù)測(cè)。目前 , 我們提供來自以下合作伙伴的各種化學(xué)計(jì)量學(xué)軟件:

1) Camo (The Unscrambler® X)

2) SensoLogic (Calibration Wizard)

3) Umetrics (Simca)

 

技術(shù)規(guī)格

1) 集成 20W 鎢鹵素光源用于樣品照射

2) SMA 905 光纖連接

3) 工業(yè)防護(hù)等級(jí) IP64

4) 帶藍(lán)寶石窗的不銹鋼外殼(僅接觸式探頭)

5) 配置可滿足食品行業(yè)通行法規(guī)或防爆認(rèn)證(僅接觸式探頭)

6) 適用的測(cè)量距離從 150 毫米到 600 毫米不等(非接觸式探頭)

7) 通過光源和傳感器單元的組合,適用的測(cè)量距離從0 到 50毫米不等(接觸式探頭)

 

技術(shù)特點(diǎn)

1) 近紅外光譜儀是過程分析中重要和廣泛使用的方法之一。無損,,無需樣品制備,不產(chǎn)生浪費(fèi)

2) 采用二極管陣列技術(shù),即使在高測(cè)量速率下也能提供穩(wěn)定可靠的測(cè)量結(jié)果

3) 創(chuàng)新的透射光柵的設(shè)計(jì),能夠?qū)崿F(xiàn)大的靈敏度和極低的散射光( 對(duì)比度 > 1:50,000 ),同時(shí)保證長(zhǎng)期穩(wěn)定性

4) 全自動(dòng)的系統(tǒng)校準(zhǔn),可調(diào)整的測(cè)量光斑大小

5) 標(biāo)準(zhǔn)化的光譜范圍,極低的散射光水平,的測(cè)量速率,接近理論極限的均勻的光學(xué)分辨率

6) 接觸式和非接觸式探頭專為工業(yè)應(yīng)用而設(shè)計(jì),可滿足苛刻的現(xiàn)場(chǎng)要求,無懼灰塵、濕氣、壓力和溫度等種種因素的影響,符合通用的生產(chǎn)和安全規(guī)定,例如可以用于食品工業(yè)或防爆區(qū)

7) 可通過多探頭光學(xué)切換模塊實(shí)現(xiàn)一臺(tái)設(shè)備配套多個(gè)探頭的應(yīng)用,實(shí)現(xiàn)多條生產(chǎn)線互不干擾的實(shí)時(shí)過程監(jiān)控和控制

8) 提供標(biāo)準(zhǔn)模塊化的設(shè)備和軟件,高度的靈活性,易于集成,簡(jiǎn)化操作

 

客戶價(jià)值

1) 從原材料的實(shí)時(shí)檢測(cè)到終產(chǎn)品的質(zhì)量控制的生產(chǎn)全過程,通過減少廢品率來提高效率和降低成本

2) 對(duì)整個(gè)生產(chǎn)過程的自動(dòng)實(shí)時(shí)控制,確保產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定性,對(duì)生產(chǎn)工藝過程實(shí)現(xiàn)全程監(jiān)測(cè)并進(jìn)行優(yōu)化

3) 一臺(tái)儀器可以測(cè)量多個(gè)參數(shù),降低客戶設(shè)備投資成本

4) 無需樣品制備過程,加快檢測(cè)通量

5) 對(duì)待測(cè)樣品絲毫不產(chǎn)生破壞,非侵入性測(cè)量,也不存在樣品消耗

6) 為每位客戶制定詳細(xì)的年度維護(hù)及預(yù)防性維修方案,保證設(shè)備長(zhǎng)期連續(xù)可靠運(yùn)行,實(shí)現(xiàn)極低的使用和維護(hù)成本

7) 便捷的操作和維護(hù)

 

應(yīng)用

1) 固體(如散裝貨物 ,粉末 ,紙張或紡織品)

2) 流體(例如液體 ,懸浮液 ,擴(kuò)散和粘性介質(zhì))

3) 氣體(如氣溶膠或煙霧)

4) 非接觸式探頭用于遠(yuǎn)距離測(cè)量的反射探頭( 傳送帶、網(wǎng)狀應(yīng)用等等 )

5) 接觸式探頭用于近距離或與樣品直接接觸( 管道,滑槽,漏斗等 )測(cè)量

6) 青貯玉米檢測(cè)

7) 飼料檢測(cè)

8) 食品

9) 制藥

10) 工業(yè)在線質(zhì)控

11) 產(chǎn)品篩選(例如按照顆粒大小分類,或按照成分不同進(jìn)行分類)

12) 膜層厚度測(cè)量

 

可選配置

型號(hào):PSS 1720

光譜范圍:850 – 1650 nm

檢測(cè)器:InGaAs

像素:256

分辨率:<6.4 nm或<9.5 nm

 

型號(hào):PSS 1750

光譜范圍:850 – 1650 nm

檢測(cè)器:InGaAs

像素:512

分辨率:<3.2 nm或<4.8 nm

 

型號(hào):PSS 2120

光譜范圍:1100 – 2100 nm

檢測(cè)器:InGaAs

像素:256

分辨率:<7.9 nm或<11.9 nm

 

型號(hào):PSS 2220

光譜范圍:1200 – 2200 nm

檢測(cè)器:InGaAs

像素:256

分辨率:256 <7.9 nm或<11.9 nm

 

配套附件

1) 多探頭光學(xué)切換模塊

2) 直線型單光纖光纜

3) 探頭電源和控制電纜

4) 探頭支架

5) 旋轉(zhuǎn)臺(tái)

 

技術(shù)原理

與常用的化學(xué)分析方法不同,近紅外光譜分析法是一種間接分析技術(shù),是用統(tǒng)計(jì)的方法在樣品待測(cè)屬性值與近紅外光譜數(shù)據(jù)之間建立一個(gè)關(guān)聯(lián)模型(或稱校正模型,Calibration Model)。近紅外光譜法是利用含有氫基團(tuán)(X-H,X為:C,O,N,S 等)化學(xué)鍵(X-H)伸縮振動(dòng)倍頻和合頻,在近紅外區(qū)的吸收光譜,通過選擇適當(dāng)?shù)幕瘜W(xué)計(jì)量學(xué)多元校正方法,把校正樣品的近紅外吸收光譜與其成分濃度或性質(zhì)數(shù)據(jù)進(jìn)行關(guān)聯(lián),建立校正樣品吸收光譜與其成分濃度或性質(zhì)之間的關(guān)系(校正模型)。在進(jìn)行未知樣品預(yù)測(cè)時(shí),應(yīng)用已建好的校正模型和未知樣品的吸收光譜,就可定量預(yù)測(cè)其成分濃度或性質(zhì)。

 

制造商簡(jiǎn)介

Polytec GmbH:者,創(chuàng)新者,*主義者。

 

Polytec在擁有400多名員工,為研究和行業(yè)開發(fā),生產(chǎn)和銷售光學(xué)測(cè)量技術(shù)解決方案。優(yōu)質(zhì)的創(chuàng)新產(chǎn)品在專業(yè)領(lǐng)域享有盛譽(yù),并根據(jù)客戶的日常需求量身定制專屬的解決方案。 

 

今天,Polytec專注于科技領(lǐng)域:

 

1) 震動(dòng)測(cè)量

2) 測(cè)速

3) 3D表面測(cè)量

4) 過程分析

5) 圖像處理

6) 其他光學(xué)系統(tǒng)

 

Polytec的技術(shù)應(yīng)用于眾多專業(yè)領(lǐng)域,包括:航空航天,醫(yī)療,納米技術(shù),機(jī)械工程領(lǐng)域等。Polytec的測(cè)量技術(shù)在這些領(lǐng)域都能幫助企業(yè)樹立并鞏固其技術(shù)地位。用戶在測(cè)量敏感的生產(chǎn)流程,產(chǎn)品質(zhì)量時(shí)都會(huì)依賴于Polytec的測(cè)量技術(shù)。 

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