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X射線衍射儀（XRD）

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產(chǎn)品簡介

儀器照片儀器名稱X射線衍射儀儀器型號(hào)SmartLab3KW生產(chǎn)廠家日本理學(xué)儀器簡介高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度，一維陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅提高設(shè)備的使用效率，而且提高了設(shè)備的探測靈敏度

詳細(xì)介紹

儀器照片
儀器名稱	X射線衍射儀
儀器型號(hào)	SmartLab 3KW
生產(chǎn)廠家	日本理學(xué)
儀器簡介	高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度，一維陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅提高設(shè)備的使用效率，而且提高了設(shè)備的探測靈敏度。
技術(shù)參數(shù)	測量精度：±0.0001°；測角儀半徑≥200 mm；步長大于0.0001°；角度范圍（2θ）：-110～168°；輸出：小于3 KW；穩(wěn)定性：±0.01%；管電壓：20～60 kV(1kV/1step)；管電流：10～60 mA。
儀器功能	X射線衍射儀可以對(duì)樣品進(jìn)行物相定性和部分樣品的定量分析，可以測定精確的晶胞參數(shù)、簡單晶體的晶體結(jié)構(gòu)、樣品的結(jié)晶度、微晶的粒度。利用相應(yīng)附件可以測定納米粒度、薄膜厚度；可以進(jìn)行斑點(diǎn)等小區(qū)域樣品進(jìn)行分析；
在線測試系統(tǒng)
物相分析檢測案例
樣品要求	粉末：樣品須干燥處理，粒度小于300目，質(zhì)量不少于0.1g；塊體: 需加工出一平整的表面，尺寸約為20mm×20mm×2mm。