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濟(jì)寧恒碩檢測(cè)儀器有限公司


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全聚焦TFM相控陣探傷儀

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商品詳細(xì)介紹提供全聚焦方式(TFM)功能的OmniScanX3相控陣探傷信心滿滿,昭然可見OmniScanX3探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱

詳細(xì)介紹

  • 商品詳細(xì)介紹
提供全聚焦方式(TFM)功能的OmniScan X3相控陣探傷

信心滿滿,昭然可見

OmniScan X3探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強(qiáng)大的工具,如:全聚焦方式(TFM)圖像和高級(jí)成像功能,可使用戶更加充滿信心地完成檢測(cè)。

改進(jìn)的相控陣技術(shù)

  • 速度是OmniScan MX2探傷儀的2倍(脈沖重復(fù)頻率)
  • 單獨(dú)的衍射時(shí)差(TOFD)菜單,加快了工作流程
  • 改進(jìn)的快速相控陣校準(zhǔn),使用戶享有更輕松的操作體驗(yàn)
  • 800%的高波幅范圍,減少了重新掃查的需要
  • 機(jī)載雙晶線陣和雙晶矩陣探頭的支持性能,加速了創(chuàng)建設(shè)置的過程

 

迅速地投入到檢測(cè)工作中

機(jī)載掃查計(jì)劃、改進(jìn)的快速校準(zhǔn)和簡(jiǎn)化的用戶界面,有助于省去一些不必要的步驟,從而可使用戶在很短的時(shí)間內(nèi)完成檢測(cè)的設(shè)置工作。

如果您是OmniScan MX2儀器的用戶,您可以從現(xiàn)有的儀器迅速地過渡到OmniScan X3儀器。如果您還不太了解相控陣超聲檢測(cè)或全聚焦方式(TFM),您可以通過OmniScan X3探傷儀輕松地學(xué)習(xí)這些知識(shí)。

      性能可靠,令人信賴

  • 符合IP65評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn),防雨防塵機(jī)載GPS,
  • 可提供采集數(shù)據(jù)的位置
  • 可通過無線方式連接到奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng),以下載的軟件
  • 得益于25 GB的文件容量,儀器可以無需停歇,持續(xù)掃查。

    檢測(cè)團(tuán)隊(duì)中的主力成員

    OmniScan X3探傷儀所提供的功能有助于用戶高效地完成檢測(cè)工作。這些功能可以在以下應(yīng)用中大顯身手:焊縫檢測(cè)、管線和管道的檢測(cè)、耐腐蝕合金的檢測(cè)、腐蝕成像、高溫氫致缺陷(HTHA)的檢測(cè)、初期裂紋的探測(cè)、復(fù)合材料的檢測(cè)和缺陷成像。

    • 與現(xiàn)有的探頭和掃查器相兼容
    • 32:128PR型號(hào),提供64晶片的全聚焦方式(TFM)功能
    • 還提供16:64PR和16:128PR型號(hào)
    • 最多8個(gè)聲束組,1024個(gè)聚焦法則
    • 與OmniScan MX2/SX儀器的文件相兼容,方便了用戶轉(zhuǎn)換到新儀器的操作
    • 64 GB的內(nèi)置存儲(chǔ)容量,還可以借助外置USB驅(qū)動(dòng)盤擴(kuò)展存儲(chǔ)容量

      新一代OmniScan帶給您更美好的體驗(yàn)

      OmniScan X3儀器的軟件性能強(qiáng)大,其簡(jiǎn)潔、現(xiàn)代的菜單結(jié)構(gòu)減少了按鍵的次數(shù),改進(jìn)了從開始設(shè)置到最后制作報(bào)告的整個(gè)檢測(cè)過程,因此無論新老用戶都會(huì)得心應(yīng)手地使用這款儀器。

      實(shí)時(shí)全聚焦方式(TFM)包絡(luò)處理

      儀器的包絡(luò)處理功能,可以為缺陷生成高清全聚焦方式(TFM)圖像。圖中的缺陷在背景噪聲的襯托下,顯得更為清晰鮮明。

      屏幕上最多可顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,有助于缺陷的解讀和定量

      在同一個(gè)檢測(cè)中使用不同的全聚焦方式(TFM)模式(聲波組),使檢測(cè)人員更有希望探測(cè)到方向異常的缺陷指示。OmniScan X3探傷儀可以最多同時(shí)顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,從而使用戶看到從不同角度生成的圖像。來自每種模式的響應(yīng)和特征,如:端部衍射、圓角凹陷和缺陷剖面,可被綜合在一起進(jìn)行分析,從而可以確認(rèn)缺陷的類型,并提高缺陷定量的性能。

      提前確認(rèn)覆蓋區(qū)域
      聲學(xué)影響圖(AIM)工具可以基于用戶的全聚焦方式(TFM)模式、探頭、設(shè)置和模擬反射體,即刻提供靈敏度的可視化模型。

      聲學(xué)影響圖(AIM)工具消除了掃查計(jì)劃創(chuàng)建過程中的猜測(cè)因素,因?yàn)槠聊簧蠒?huì)顯示某個(gè)聲波組(TFM模式)的效果圖,使用戶看到靈敏度消失的位置,并對(duì)掃查計(jì)劃進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整。

      屏幕上顯示有全聚焦方式(TFM)區(qū)域的相控陣超聲檢測(cè)探傷儀

      相控陣超聲探傷儀提供機(jī)載掃查計(jì)劃創(chuàng)建功能

      迅速地投入到檢測(cè)工作中

      機(jī)載掃查計(jì)劃工具有助于用戶在開始檢測(cè)之前觀察到檢測(cè)圖像。

      • 在一個(gè)簡(jiǎn)單的工作流程中創(chuàng)建包含全聚焦方式(TFM)區(qū)域在內(nèi)的整個(gè)掃查計(jì)劃
      • 同時(shí)配置多個(gè)探頭和聲波組
      • 改進(jìn)的校準(zhǔn)功能和設(shè)置驗(yàn)證工具

        看似熟悉、實(shí)有提升的OmniScan操作體驗(yàn)

        OmniScan X3探傷儀雖然保留了OmniScan儀器熟為人知的界面,但卻減少了設(shè)置和分析所需的步驟。因此擁有OmniScan X2的用戶可以快速方便地過渡到OmniScan X3的使用,而新的用戶則可以借助OmniScan X3輕松地學(xué)習(xí)檢測(cè)知識(shí)。

        改進(jìn)的快速校準(zhǔn)

        OmniScan X3校準(zhǔn)菜單可以高速跟蹤信號(hào)。檢測(cè)人員可以在幾分鐘之內(nèi)簡(jiǎn)單輕松地完成多組校準(zhǔn)。

        檢測(cè)人員正在使用手提電腦上的相控陣檢測(cè)軟件
         

利用PC機(jī)的強(qiáng)大功能

OmniPC軟件為用戶提供一套高級(jí)工具,如:并排顯示視圖的功能,這種視圖可使用戶在屏幕上比較兩個(gè)文件,從而在分析數(shù)據(jù)時(shí)更加充分地利用PC機(jī)的性能。

  • 將數(shù)據(jù)方便地導(dǎo)出到USB存儲(chǔ)盤
  • 觀察焊縫左右兩側(cè)的圖像
  • 在同一個(gè)屏幕上將當(dāng)前和以前捕獲的檢測(cè)數(shù)據(jù)放在一起進(jìn)行比較

    OmniScan X3的技術(shù)規(guī)格

     
     • 數(shù)據(jù)技術(shù)規(guī)格 • 聲學(xué)技術(shù)規(guī)格 • TFM/FMC • 操作環(huán)境
     

    類型

    多組、多模式超聲探傷儀
    尺寸(寬 × 高 × 厚) 335 mm × 221 mm × 151 mm
    重量 5.7 kg(含1塊電池)
    硬盤驅(qū)動(dòng)器容量 64 GB的內(nèi)置SSD,還可以借助外置USB驅(qū)動(dòng)盤擴(kuò)展存儲(chǔ)容量
    存儲(chǔ)設(shè)備 SDHC卡和SDXC卡,或者大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)USB存儲(chǔ)設(shè)備
    機(jī)載文件容量 25 GB
    GPS 有(除非針對(duì)某些地區(qū)另有規(guī)定)
    報(bào)警 3個(gè)
    無線連接 有(USB適配器作為配件單獨(dú)出售)
    PA接口 1個(gè)接口
    UT接口 32:128PR和16:128PR4型號(hào)有4個(gè)接口(2個(gè)P/R通道);16:64PR型號(hào)有相同的接口,但是僅有1個(gè)激活的UT通道(P1/R1)
    認(rèn)證 ISO 18563-1:2015
    EN12668-1:2010
    顯示
    類型 TFT LCD(薄膜晶體管液晶顯示屏),電阻式觸摸屏
    尺寸 269毫米(10.6英寸)
    分辨率 1280 × 768像素
    顏色數(shù)量 1千6百萬
    可視角度 水平:−85° ~ 85°
    豎直:−85° ~ 85°
    輸入/輸出(I/O)端口
    USB 2.0 2個(gè)端口(1個(gè)位于電池的后面)
    USB 3.0 1個(gè)端口
    視頻輸出 視頻輸出(HDMI)
    存儲(chǔ)卡 SDHC端口
    通信 以太網(wǎng)
    輸入/輸出(I/O)線
    編碼器 雙軸編碼器線(正交或時(shí)鐘/方向),可以連接第三個(gè)編碼器
    數(shù)字輸入 6個(gè)數(shù)字輸入,TTL
    數(shù)字輸出 5個(gè)數(shù)字輸出,TTL
    采集開關(guān) 將1個(gè)數(shù)字輸入配置為采集開關(guān)
    電源輸出線 5 V額定值,1 A(短路保護(hù)),在1 A時(shí)為12 V輸出
    外接DC電源
    直流輸入(DC-IN)電壓 15 VDC ~ 18 VDC(最小為50 W)
    接口 圓形,2.5毫米引腳直徑,中心正極
    電池
    類型 鋰離子電池
    容量 93 Wh
    電池?cái)?shù)量 2個(gè)
    運(yùn)行時(shí)間 2個(gè)電池運(yùn)行5個(gè)小時(shí)(具有熱插拔性能)
    PA/UT配置
    位深度 16比特
    脈沖重復(fù)頻率(PRF) 12 kHz
    頻率
    有效數(shù)字化頻率 100 MHz
    顯示
    刷新率 A掃描:60 Hz; S掃描:20 Hz ~ 30 Hz
    包絡(luò)(回波動(dòng)態(tài)模式) 有:體積校正的S掃描(30 Hz)
    A掃描高度 達(dá)800 %
    同步
    根據(jù)內(nèi)部時(shí)鐘 1 Hz ~ 10 kHz
    外部步速
    根據(jù)編碼器 雙軸:1步 ~ 65536步

    數(shù)據(jù)技術(shù)規(guī)格

    處理
    A掃描數(shù)據(jù)點(diǎn)的數(shù)量 達(dá)16384
    實(shí)時(shí)平均 PA:2、4、8、16
    UT:2、4、8、16、32、64
    檢波 射頻、全波、正半波、負(fù)半波
    濾波 PA通道:3個(gè)低通、6個(gè)帶通和4個(gè)高通濾波器
    UT通道:8個(gè)低通、6個(gè)帶通和4個(gè)高通濾波器(當(dāng)配置為TOFD時(shí),為3個(gè)低通濾波器)
    視頻濾波 平滑(根據(jù)探頭頻率范圍調(diào)節(jié))
    可編程TCG
    點(diǎn)的數(shù)量 32個(gè),每個(gè)聚焦法則有一條TCG(時(shí)間校正增益)曲線
    范圍 相控陣(標(biāo)準(zhǔn)):40 dB,步距為0.1 dB
    相控陣(擴(kuò)展):65 dB,步距為0.1 dB
    常規(guī)超聲:100 dB,步距為0.1 dB
    斜率 相控陣(標(biāo)準(zhǔn)):40 dB/10 ns
    相控陣(擴(kuò)展):0.1 dB/10 ns
    常規(guī)超聲:40 dB/10 ns

    聲學(xué)技術(shù)規(guī)格

    脈沖發(fā)生器 PA通道 UT通道
    電壓 40 V、80 V、115 V 85 V、155 V、295 V
    脈沖寬度 30 ns ~ 500 ns范圍內(nèi)可調(diào),分辨率為2.5 ns 30 ns ~ 1,000 ns范圍內(nèi)可調(diào),分辨率為2.5 ns
    下降時(shí)間 < 10 ns < 10 ns
    脈沖形狀 負(fù)方波脈沖 負(fù)方波脈沖
    輸出阻抗 脈沖回波模式:28 ?
    一發(fā)一收模式:24 ?
    < 30 Ω
    接收器 PA通道 UT通道
    增益范圍 0 dB ~ 80 dB,輸入信號(hào); 550 mVp-p(滿屏高) 0 dB ~ 120 dB,輸入信號(hào); 34.5 Vp-p(滿屏高)
    輸入阻抗 脈沖回波模式,9 MHz時(shí):57 Ω ±10 %
    一發(fā)一收模式,9 MHz時(shí):100 Ω ±10 %
    脈沖回波模式:50 Ω
    脈沖發(fā)送接收模式:50 ?
    系統(tǒng)帶寬 0.5 MHz ~ 18 MHz 0.25 MHz ~ 28 MHz
    聲束形成 PA通道 UT通道
    掃查類型 單一、線性、扇形、混合和全聚焦方式(TFM)
    孔徑 OMNIX3-PATFM1664PR = 16晶片
    OMNIX3-PATFM16128PR = 16晶片
    OMNIX3-PATFM32128PR = 32晶片
    接收晶片數(shù)量 OMNIX3-PATFM1664PR = 64接收晶片
    OMNIX3-PATFM16128PR = 128接收晶片
    OMNIX3-PATFM32128PR = 128接收晶片
    聚焦法則的數(shù)量 達(dá)1024
    發(fā)射的延遲范圍 0 µs ~ 10 µs,增量為2.5 ns
    接收的延遲范圍 0 µs ~ 6.4 µs,增量為2.5 ns

    TFM/FMC

    被支持的模式 脈沖回波:L-L、TT和TT-TT
    一發(fā)一收:LL-L、TT-T、TT-L、TL-T、LT-T和TL-L
    聲束組的數(shù)量 同時(shí)顯示最多4個(gè)全聚焦方式(TFM)組
    孔徑 OMNIX3-PATFM1664PR = 32晶片擴(kuò)展孔徑
    OMNIX3-PATFM166128PR = 32晶片擴(kuò)展孔徑
    OMNIX3-PATFM32128PR = 64晶片擴(kuò)展孔徑
    圖像分辨率 高達(dá)1024 × 1024(1 M點(diǎn)),針對(duì)每個(gè)全聚焦方式(TFM)聲波組
    實(shí)時(shí)全聚焦方式(TFM)包絡(luò)

    操作環(huán)境

    侵入保護(hù)評(píng)級(jí) 符合IP65評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)(防塵,且可抵御來自各個(gè)方向的水射流,6.3毫米噴嘴)
    防撞擊評(píng)級(jí) 通過MIL-STD-810G的墜落測(cè)試
    預(yù)期用途 室內(nèi)和室外使用
    海拔高度 高達(dá)2000米
    操作溫度 0 °C ~ 45 °C
    存儲(chǔ)溫度 −20 °C ~ 60 °C (內(nèi)含電池)
    −20 °C ~ 70 °C (不含電池)

    用于檢測(cè)焊縫的OmniScan X3探傷儀

    OmniScan X3相控陣探傷儀,充分發(fā)揮檢測(cè)性能

    OmniScan探傷儀長(zhǎng)期以來一直被為奧林巴斯相控陣焊縫檢測(cè)的主力儀器。OmniScan X3探傷儀在設(shè)置、成像和分析方面的表現(xiàn)更加出色,也使焊縫檢測(cè)工作更加輕松。

    • 用戶可以在OmniScan儀器中進(jìn)行完整的設(shè)置,而無需使用PC機(jī)
    • 改進(jìn)的快速校準(zhǔn)
    • 多組全聚焦方式(TFM)圖像不僅 提高了圖像的分辨率,而且還對(duì)缺陷在圖像中的顯示位置進(jìn)行了幾何校正
    • 標(biāo)準(zhǔn)的PR配置允許使用雙晶陣列探頭的較大孔徑

    OmniScan X3探傷儀擅長(zhǎng)于完成各種焊縫檢測(cè)應(yīng)用,其中包括:

    • 在役焊縫和建筑焊縫
    • 壓力容器
    • 工藝管道
    • 鍋爐管
    • 管線
    • 風(fēng)塔
    • 結(jié)構(gòu)建筑
    • 耐腐蝕合金和堆焊材料(奧氏體、鎳和其他粗晶材料)

     

    用于檢測(cè)腐蝕和其他損傷情況的OmniScan X3探傷儀

  •  
  • 利用相控陣技術(shù)進(jìn)行腐蝕檢測(cè)具有很多優(yōu)勢(shì),其中包括較大的覆蓋范圍和出色的分辨率。但是,熟練掌握相控陣技術(shù)具有一定的挑戰(zhàn)性。OmniScan X3探傷儀通過精心設(shè)計(jì)的軟件和簡(jiǎn)單流暢的菜單為用戶提供高級(jí)功能,從而可使用戶簡(jiǎn)單輕松地獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
    • 儀器所提供的高級(jí)工具,如:全聚焦方式(TFM)圖像,可用于檢測(cè)腐蝕或其他一些較難探測(cè)到的損壞現(xiàn)象,如:高溫氫致缺陷(HTHA)和氫致裂紋(HIC)
    • 只需極為簡(jiǎn)單的設(shè)置,就可以使用一個(gè)最多包含64個(gè)晶片的孔徑生成具有優(yōu)質(zhì)分辨率的 全聚焦方式(TFM)圖像
    • 任何水平的操作人員在使用儀器時(shí)都會(huì)感到 得心應(yīng)手
    • 得益于簡(jiǎn)化的菜單結(jié)構(gòu)和設(shè)置向?qū)В?nbsp;用戶可以更輕松地設(shè)置復(fù)雜的解決方案,如:與HydroFORM掃查器配套進(jìn)行的檢測(cè)探測(cè)早期的高溫氫致(HTHA)缺陷

      OmniScan X3探傷儀的實(shí)時(shí)全聚焦方式(TFM)包絡(luò)、高分辨率全聚焦方式(TFM)圖像(1024 × 1024點(diǎn)),以及64晶片孔徑可為早期的高溫氫致(HTHA)缺陷生成圖像,而在高溫氫致缺陷形成的初期探測(cè)到缺陷至關(guān)重要。

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