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2李女士
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目錄:廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司>>元器件篩選及失效分析>>軌道交通類>> 軌道交通電子元器件失效分析
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更新時(shí)間：2024-11-06 08:31:24瀏覽次數(shù)：681評(píng)價(jià)
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李女士
| 服務(wù)區(qū)域 | 全國 | 服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS |
|---|---|---|---|
| 服務(wù)費(fèi)用 | 視具體項(xiàng)目而定 | 服務(wù)周期 | 常規(guī)5-7個(gè)工作日 |
服務(wù)范圍
廣電計(jì)量軌道交通電子元器件失效分析服務(wù)范圍：IGBT、IC集成電路、微機(jī)電器件
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
廣電計(jì)量軌道交通電子元器件失效分析檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GJB548微電子器件試驗(yàn)方法和程序
檢測(cè)項(xiàng)目
（1）常見檢測(cè)項(xiàng)?：3DX 射線檢查、聲學(xué)掃描檢查、開封、IC 取芯片、芯片去層、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測(cè)、漏電位置檢測(cè)、彈坑檢測(cè)、粗細(xì)撿漏、ESD 測(cè)試
（2）常見失效模式分析：靜電損傷、過電損傷、鍵合異常、封裝異常、散熱異常、電參數(shù)漂移
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
服務(wù)背景
隨著動(dòng)車及高速列車電控性能的提升，其使用的電子元器件占比越來越高。一方面，為保證動(dòng)車及高速列車的運(yùn)行可靠性，需要對(duì)所使用的電子元器件進(jìn)行充分的性能摸底，以熟悉產(chǎn)品性能及預(yù)期壽命。另一方面，列車運(yùn)行過程中一旦出現(xiàn)電子元器件失效，將可造成災(zāi)難性的損失；而為滿足電子元器件高功率、高負(fù)載、高性能的要求，列車上多使用進(jìn)口集成電路芯片，因檢測(cè)手段匱乏、分析方法空白，其失效問題常常受制于國外供應(yīng)商。
我們的優(yōu)勢(shì)
廣電計(jì)量通過與華為、海思等國內(nèi)集成電路芯片廠的深度合作，不斷提高自身芯片類檢測(cè)硬件實(shí)力及分析軟件實(shí)力。具備分析芯片14nm及以上工藝能力，同時(shí)可以將問題鎖定在具體芯片層或者um范圍內(nèi)。
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