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艾普斯卡（北京）設備有限公司
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更新時間：2023-04-08 14:22:21瀏覽次數(shù)：342次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗
視頻介紹 點擊下面鏈接可觀看視頻 .cn/場發(fā)射透射電鏡JEM-F200 以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。 外觀設計精煉 精煉的外型，全新的視覺感受。 為分析型電鏡全新設計的GUI，使操作更加直觀方便。 JEOL長年積累的豐富經(jīng)驗在設計上得到了充分的體現(xiàn)，與舊機型相比，電鏡的機械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的提高。 四級聚光鏡系統(tǒng) 現(xiàn)在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術--- 從明場/暗場的TEM成像到使用各種檢測器的STEM技術。 該設備采用新型四級聚光鏡照射光學系統(tǒng)-“Quad-Lens condenser system"，通過分別控制電子束強度和匯聚角，能滿足各種研究的需求。 掃描系統(tǒng) JEM-F200可以實現(xiàn)大視野的STEM-EELS分析，該設備在常規(guī)的照明系統(tǒng)的電子束掃描功能之上，增加了新的掃描系統(tǒng)-“Advanced Scan System" 即成像系統(tǒng)的電子束掃描功能（選配）。 皮米樣品臺驅動 JEM-F200 采用能以皮米級步長移動樣品臺的Pico stage drive（不用壓電驅動），能在寬動態(tài)范圍移動視野-從樣品的整個柵網(wǎng)視野移動到原子級圖像視野移動都能進行。 SpecPorter（自動插入和拔出樣品桿的裝置） 插入和拔出樣品桿，對電鏡初學者來說一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter，即使新手也能輕松掌握，將樣品桿安裝在的位置上，只用一個按鈕即能安全地插入或拔出。 改進的冷場發(fā)射電子槍 JEM-F200能安裝高穩(wěn)定性、高亮度和高能量分辨率的冷場發(fā)射電子槍（選配），該槍的利用可以進行EELS化學結合狀態(tài)分析，高亮度的電子束縮短了分析時間，并且還降低了來自光源的色差，實現(xiàn)了高分辨率的觀察。 雙能譜（SDD） JEM-F200能同時安裝兩個大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器（SDD）（選配件）。 憑借更高的靈敏度，EDS分析速度更快，對樣品的損傷更小。 環(huán)保節(jié)能 JEM-F200是個標配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統(tǒng)能將能源消耗降低到正常模式時的1/5，可以在裝置不運行時，以最小的能耗保持著電鏡的條件。該設備具有排程功能，能在的時間將電鏡從ECO模式恢復到工作狀態(tài)。
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