QUANTUM量子科學(xué)儀器貿(mào)易（北京）有限公司
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詳細(xì)摘要： Excillum--液態(tài)金屬靶X射線源能夠承受更高功率電子束的轟擊，使得這項(xiàng)新技術(shù)能夠帶來10倍于普通固體陽極X射線光源所發(fā)射的X射線通量（在相同焦斑面積上），...
產(chǎn)品型號：MetalJet所在地：國外更新時間：2023-11-29 在線留言
詳細(xì)摘要： 美國easyXAFS公司推出的臺式X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀（XAFS/XES），采用*的X射線單色器設(shè)計(jì)，無需同步輻射光源，在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中實(shí)現(xiàn)X射線吸收精細(xì)結(jié)...
產(chǎn)品型號：XAFS/XES所在地：北京市更新時間：2023-11-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 激光閃光法熱常數(shù)測量系統(tǒng)-TC-1200RH系統(tǒng)采用符合JIS/ISO標(biāo)準(zhǔn)的激光閃光法測定材料的三個重要熱物理常數(shù)：熱導(dǎo)率（導(dǎo)熱系數(shù)）、熱擴(kuò)散系數(shù)及比熱容。
產(chǎn)品型號：TC-1200RH所在地：北京市更新時間：2023-11-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統(tǒng)-ZEM-d主要測量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數(shù)和電阻率，可以測量的樣品薄為10μm。
產(chǎn)品型號：ZEM-d所在地：北京市更新時間：2023-11-15 在線留言
詳細(xì)摘要： 低溫雙軸旋轉(zhuǎn)模塊-atto3DR通過水平固定軸的旋轉(zhuǎn)，控制樣品表面與外界磁場的傾角（+/- 90°）；而沿面內(nèi)固定軸的旋轉(zhuǎn)提供了另外+/- 90...
產(chǎn)品型號：atto3DR所在地：北京市更新時間：2023-11-15 在線留言
詳細(xì)摘要： 石墨烯/二維材料電學(xué)性質(zhì)非接觸快速測量系統(tǒng)-ONYX是一款針對石墨烯、半導(dǎo)體薄膜和其他二維材料大面積太赫茲無損表征的測量設(shè)備。
產(chǎn)品型號：ONYX所在地：北京市更新時間：2023-11-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 日本Advance Riko公司推出的納米薄膜熱導(dǎo)率測試系統(tǒng)-TCN-2ω是使用2ω方法測量納米薄膜厚度方向熱導(dǎo)率的商用系統(tǒng)。與其他方法相比，樣品制備和測量極為...
產(chǎn)品型號：TCN-2ω所在地：北京市更新時間：2023-11-12 在線留言
詳細(xì)摘要： TEGeta 多功能熱電材料測量系統(tǒng)是德國 PANCO 公司研制的一款高精度多功能的熱電性能測量設(shè)備。它的工作原理是通過熱端和冷端在材料中形成溫度梯度，然后高精...
產(chǎn)品型號：TEGeta所在地：北京市更新時間：2023-11-10 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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