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半導(dǎo)體間歇壽命功率循環(huán)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

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參考價(jià):100008

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產(chǎn)品型號(hào)
BW-IOL-X16M
品牌
其他品牌
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)商
所在地
西安市

規(guī)格

BW-HAST-H4 100008元 10件可售

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更新時(shí)間：2023-12-23 17:09:09瀏覽次數(shù)：362次

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功率半導(dǎo)體綜合測(cè)試系統(tǒng)

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陜西博微電通科技有限責(zé)任公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地	國(guó)產(chǎn)

適用于各種封裝的IGBT、Si/SiC/GaN、MOSFET、BTJ進(jìn)行K系數(shù)測(cè)試、穩(wěn)態(tài)熱阻測(cè)試及功率循環(huán)試驗(yàn)
試驗(yàn)線路及試驗(yàn)方法滿足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求
系統(tǒng)平均無(wú)問(wèn)題時(shí)間≥10000 小時(shí)
每通道為 48 工位，48 工位中每個(gè)工位可進(jìn)行 Tj 測(cè)試

詳細(xì)介紹

BW-IOL-X16M

半導(dǎo)體間歇壽命溫度循環(huán)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

■適用于各種封裝的IGBT、Si/SiC/GaN、MOSFET、BTJ進(jìn)行K系數(shù)測(cè)試、穩(wěn)態(tài)熱阻測(cè)試及功率循環(huán)試驗(yàn)。

■符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求。

■試驗(yàn)線路及試驗(yàn)方法滿足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求

■系統(tǒng)平均無(wú)問(wèn)題運(yùn)行時(shí)間≥10000 小時(shí)

■每通道為 48 工位，48 工位中每個(gè)工位可進(jìn)行 Tj 測(cè)試

技術(shù)特點(diǎn) Technical characteristics

■在試驗(yàn)的過(guò)程中實(shí)時(shí)測(cè)量被試器件的結(jié)溫，并顯示max結(jié)溫、min結(jié)溫及結(jié)溫差。

■試驗(yàn)的過(guò)程定時(shí)測(cè)量被試器件的結(jié)殼熱阻，有利于觀察試驗(yàn)過(guò)程中熱阻值的變化。

■設(shè)備帶有煙霧探測(cè)器，系統(tǒng)探測(cè)到煙霧后自動(dòng)停止。