朱琴
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當前位置:廈門元航機械設(shè)備有限公司>>EMG>> 德國EMG 光學傳感器 EVM2-CP/1810.71/L/R 現(xiàn)貨
產(chǎn)品型號德國
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地廈門市
更新時間:2024-10-20 08:27:07瀏覽次數(shù):159次
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LS13.01 測量光電接收頭 EMG德國 現(xiàn)貨
LIC1075/01 光源發(fā)射器 EMG德國 現(xiàn)貨
LLS 1075/01 線性光源發(fā)射器 EMG德國 現(xiàn)貨
EMG德國 光源發(fā)射器 L1C770/01-24VDC/3.0A
加工定制 | 否 | 輸出信號 | 其他 |
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制作工藝 | 其他 |
EMG 光學傳感器 EVM2-CP/1810.71/L/R 現(xiàn)貨
光電傳感器是將光信號轉(zhuǎn)換為電信號的一種器件。其工作原理基于光電效應(yīng)。光電效應(yīng)是指光照射在某些物質(zhì)上時,物質(zhì)的電子吸收光子的能量而發(fā)生了相應(yīng)的電效應(yīng)現(xiàn)象。根據(jù)光電效應(yīng)現(xiàn)象的不同將光電效應(yīng)分為三類:外光電效應(yīng)、內(nèi)光電效應(yīng)及光生伏應(yīng)。光電器件有光電管、光電倍增管、光敏電阻、光敏二極管、光敏三極管、光電池等。分析了光電器件的性能、特性曲線
傳感器概述
光電式傳感器是以光電器件作為轉(zhuǎn)換元件的傳感器。它可用于檢測直接引起光量變化的非電物理量,如光強、光照度、輻射測溫、氣體成分分析等;也可用來檢測能轉(zhuǎn)換成光量變化的其他非電量,如零件直徑、表面粗糙度、應(yīng)變、位移、振動、速度、加速度,以及物體的形狀、工作狀態(tài)的識別等。光電式傳感器具有非接觸、響應(yīng)快、性能可靠等特點,因此在工業(yè)自動化裝置和機器人中獲得廣泛應(yīng)用。新的光電器件不斷涌現(xiàn),特別是CCD圖像傳感器的誕生,為光電傳感器的進一步應(yīng)用開創(chuàng)了新的一頁
EMG 光學傳感器 EVM2-CP/1810.71/L/R 現(xiàn)貨
EMG光電傳感器PLE2-500.02C
對中檢測裝置附件LIC 1375/01對中燈管控制器
LLs 1375
LLS875/03光源發(fā)射器
光源發(fā)射器 LIC1375/11
光學傳感器,EVM2-CP/1810.71/L/R,1810mm,24VDC/0.6A,EMG
光學傳感器,EVK2-CP/800.71/L/R,800mm,24VDC/0.6A,EMG
糾偏接收裝置EVK2-CP/800.71/L/R
線性光源 LLS 675/02 24VDC/0.5A 品牌:EMG
操作面板 ECU01.5
起升開閉高速制動器推動器 EMG ED301/6
EMG LS13.01測量光電傳感器
EVK2-CP/400.71/L/R EMG 傳感器
EVM2 CP/750.71/L/R傳感器 EMG
LS14.01 EMG 測量光電傳感器
EMG光電式測量傳感器 EVM2-CP/1850 71/L/R
EMG 高頻報警光發(fā)射器 LIH2/30/230.01
EMG LID2-800.2C 對中光源發(fā)射器
EMG LID2-300.2C 對中光源發(fā)射器
EMG LLS 1075 線性光源發(fā)射器
EMG LLS 1075/01 線性光源發(fā)射器
CPC光源 LLS 675/11 Lichtband
EMG LLS 875/02 線性光源發(fā)射器
EMG LLS 675/01 線性光源發(fā)射器
EMG 線性光源發(fā)射器 LLS875/01
EMG對中光源發(fā)射器 LIE 1075/230/50
EMG LLS 475/01 線性光源發(fā)射器
EMG LIC1075/11光源發(fā)射器
由光通量對光電元件的作用原理不同所制成的光學測控系統(tǒng)是多種多樣的,按光電元件(光學測控系統(tǒng))輸出量性質(zhì)可分二類,即模擬式光電傳感器和脈沖(開關(guān))式光電傳感器。模擬式光電傳感器是將被測量轉(zhuǎn)換成連續(xù)變化的光電流,它與被測量間呈單值關(guān)系.模擬式光電傳感器按被測量(檢測目標物體)方法可分為透射(吸收)式,漫反射式,遮光式(光束阻檔)三大類。所謂透射式是指被測物體放在光路中,恒光源發(fā)出的光能量穿過被測物,部份被吸收后,透射光投射到光電元件上;所謂漫反射式是指恒光源發(fā)出的光投射到被測物上,再從被測物體表面反射后投射到光電元件上;所謂遮光式是指當光源發(fā)出的光通量經(jīng)被測物光遮其中一部份,使投射到光電元件上的光通量改變,改變的程度與被測物體在光路位置有關(guān)
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