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上海舜建儀器有限公司
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更新時間:2024-03-17 11:55:56瀏覽次數(shù):147次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線具有出色精度和光學性能的LEXT™OLS5100激光共聚焦顯微鏡配備了讓系統(tǒng)更加易于使用的智能工具。其能夠快速高效完成亞微米級形貌和表面粗糙度的精確測量任務(wù),既簡化了工作流程又能讓您獲得可信賴的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。
具有出色精度和光學性能的LEXT™OLS5100激光共聚焦顯微鏡配備了讓系統(tǒng)更加易于使用的智能工具。其能夠快速高效完成亞微米級形貌和表面粗糙度的精確測量任務(wù),既簡化了工作流程又能讓您獲得可信賴的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。
用于材料分析的激光顯微鏡
更智能的工作流程,更快速的實驗設(shè)計
適用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光顯微鏡將測量精度和光學性能與智能工具相結(jié)合,讓顯微鏡更加方便使用。通過快速高效精確測量亞微米級形狀和表面粗糙度的可靠數(shù)據(jù)簡化您的工作流程。
保證測量準確度
LEXT顯微鏡物鏡可提供高度準確的測量數(shù)據(jù)。與智能物鏡選擇助手(Smart Lens Advisor)搭配使用,就可獲得可靠的高精度數(shù)據(jù)。
有保證的測量準確度*
奧林巴斯享譽世界的光學器件能夠以更低像差在整個視場中捕捉樣品的真實形貌
智能物鏡選擇助手(Smart Lens Advisor)還可幫助您選擇合適的物鏡進行粗糙度測量
*本網(wǎng)頁上包括保證的準確度在內(nèi)的信息基于奧林巴斯設(shè)定的條件。
簡化材料工程與失效分析實驗管理
測試新材料時的實驗條件管理具有復(fù)雜性,OLS5100激光顯微鏡的智能實驗管理助手(Smart Experiment Manager)可通過關(guān)鍵步驟(如創(chuàng)建實驗計劃)自動化簡化這一過程。
· 提升30%的速度加快完成測量任務(wù) *
· 掃描計劃隨數(shù)據(jù)采集自動生成
· 無需花費時間轉(zhuǎn)錄數(shù)據(jù),軟件為您自動完成
*與OLS5000相比
LEXT™OLS5100激光共聚焦顯微鏡規(guī)格參數(shù)
型號 | OLS5100-SAF | OLS5100-SMF | OLS5100-LAF | OLS5100-EAF | |
---|---|---|---|---|---|
總倍率 | 54x–17,280x | ||||
視場 | 16 µm–5,120 µm | ||||
測量原理 | 光學系統(tǒng) | 反射式共焦激光掃描激光顯微鏡 反射式共焦激光掃描激光-DIC顯微鏡 顏色 彩色DIC | |||
光接收元件 | 激光:光電倍增管(2通道) 彩色:CMOS彩色相機 | ||||
高度測量 | 顯示分辨率 | 0.5 nm | |||
動態(tài)范圍 | 16位 | ||||
重復(fù)性σn -1*1 *2 *5 | 5X:0.45 μm, 10X:0.1 μm, 20X:0.03 μm, 50X:0.012 μm, 100X:0.012 μm | ||||
準確度*1 *3 *5 | 0.15 + L / 100μm(L:測量長度[μm]) | ||||
拼接圖像準確度*1 *3 *5 | 10X:5.0+L/100 μm, 20X 或更高倍率1.0+L/100 μm (L: 拼接長度[μm]) | ||||
測量噪聲(Sq噪聲)*1 *4 *5 | 1 nm(典型值) | ||||
寬度測量 | 顯示分辨率 | 1 nm | |||
重復(fù)性3σn-1 *1 *2 *5 | 5X:0.4 μm, 10X:0.2 μm, 20X:0.05 μm, 50X:0.04 μm, 100X:0.02 μm | ||||
準確度*1 *3 *5 | 測量值+/- 1.5% | ||||
拼接圖像準確度*1 *3 *5 | 10X:24+0.5L μm, 20X:15+0.5L μm, 50X:9+0.5L μm, 100X:7+0.5L μm (L:拼接長度[mm]) | ||||
單次測量時測量點數(shù)量 | 4096 × 4096像素 | ||||
測量點數(shù)量 | 3600萬像素 | ||||
XY載物臺配置 | 長度測量模塊 | ? | 不適用 | 不適用 | ? |
工作范圍 | 100 × 100 mm (3.9 × 3.9 in.) 電動 | 100 × 100 mm (3.9 × 3.9 in.) 手動 | 300 × 300 mm (11.8 × 11.8 in.) 電動 | 100 × 100 mm (3.9 × 3.9 in.) 電動 | |
樣品高度 | 100 × 100 mm (3.9 × 3.9 in.) | 30 mm (1.2 in.) | 30 mm (1.2 in.) | 210 mm (8.3 in.) | |
激光光源 | 波長 | 405 nm | |||
輸出 | 0.95 mW | ||||
激光等級 | 2級(IEC60825-1:2007,IEC60825-1:2014) | ||||
彩色光源 | 白光LED | ||||
電氣功率 | 240 W | 240 W | 278 W | 240 W | |
質(zhì)量 | 顯微鏡主體 | 約 31 kg | 約 32 kg | 約 50 kg | 約 43 kg |
控制箱 | 約 12 kg |
*1 在ISO554(1976)、JIS Z-8703(1983)規(guī)定的恒溫恒濕環(huán)境下使用時提供保證(溫度:20?C±1?C,濕度:50%±10%),如ISO554(1976)、JIS Z-8703(1983)所規(guī)定。
*2 在使用MPLAPON LEXT系列物鏡測量時倍率20x或更高。
*3 在使用專用LEXT物鏡測量時。
*4使用MPLAPON100XLEXT物鏡測量時的典型值。
*5 基于奧林巴斯認證系統(tǒng)下的保證。
** Window 10的OS許可已通過奧林巴斯提供的顯微鏡控制器認證。因此接受Microsoft許可條款即表示您同意這些條款。
系列 | 型號 | 數(shù)值孔徑(NA) | 工作距離(WD)(mm) |
---|---|---|---|
UIS2?物鏡 | MPLFLN2.5x | 0.08 | 10.7 |
MPLFLN5x | 0.15 | 20 | |
專用LEXT物鏡(10X) | MPLFLN10xLEXT | 0.3 | 10.4 |
專用LEXT物鏡(高性能型) | MPLAPON20xLEXT | 0.6 | 1 |
MPLAPON50xLEXT | 0.95 | 0.35 | |
MPLAPON100xLEXT | 0.95 | 0.35 | |
專用LEXT物鏡(長工作距離型) | LMPLFLN20xLEXT | 0.45 | 6.5 |
LMPLFLN50xLEXT | 0.6 | 5.2 | |
LMPLFLN100xLEXT | 0.8 | 3.4 | |
超長工作距離物鏡 | SLMPLN20x | 0.25 | 25 |
SLMPLN50x | 0.35 | 18 | |
SLMPLN100x | 0.6 | 7.6 | |
適用于LCD樣品的長工作距離物鏡 | LCPLFLN20xLCD | 0.45 | 8.3-7.4 |
LCPLFLN50xLCD | 0.7 | 3.0-2.2 | |
LCPLFLN100xLCD | 0.85 | 1.2-0.9 |
標準軟件 | OLS51-BSW | |||
---|---|---|---|---|
數(shù)據(jù)采集app | 分析應(yīng)用程序(簡單分析) | |||
電動載物臺套件應(yīng)用*1 | OLS50-S-MSP | |||
高級分析應(yīng)用*2 | OLS50-S-AA | |||
薄膜厚度測量應(yīng)用 | OLS50-S-FT | |||
自動邊緣測量應(yīng)用 | OLS50-S-ED | |||
顆粒物分析應(yīng)用 | OLS50-S-PA | |||
智能實驗管理助手應(yīng)用 | OLS51-S-ETA | |||
球體/圓柱體表面角度分析應(yīng)用 | OLS50-S-SA |
*1包括自動拼接數(shù)據(jù)采集和多區(qū)域數(shù)據(jù)采集功能。
*2包括輪廓分析、差值分析、臺階高度分析、表面分析、面積/體積分析、線粗糙度分析、面粗糙度分析和直方圖分析。
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