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薄膜測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要： 薄膜測(cè)厚儀適用于介質(zhì)，半導(dǎo)體，薄膜濾光片和液晶等薄膜和涂層的厚度測(cè)量。該測(cè)厚儀，是我公司與美國(guó)new-span公司*的薄膜測(cè)厚技術(shù)，基于白光干涉的原理來(lái)測(cè)定薄膜...
產(chǎn)品型號(hào)：SGC-10 所在地：南京市 更新時(shí)間：2022-08-22 參考價(jià)：¥ 4440 在線留言 -
自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要： 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀廣泛地應(yīng)用在光學(xué)、材料、生物、醫(yī)學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域。其中測(cè)量薄膜材料的厚度、折射率和消光系數(shù)是橢圓偏振法基本、重要的應(yīng)用之一 。
產(chǎn)品型號(hào)：SGC-2 所在地：南京市 更新時(shí)間：2022-08-22 參考價(jià)：¥ 4044 在線留言