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PL光致發(fā)光測試系統(tǒng)：NIR-PLuS-B
產(chǎn)品介紹：NIR-PLUS/B檢測系統(tǒng)是一款光伏檢測的綜合分析系統(tǒng)，既采用紅外技術(shù)對裂紋，孔洞，微結(jié)晶，雜質(zhì)和其他硬質(zhì)點等進行檢測，又使用PL（光致發(fā)光）技術(shù)對...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/13 11:08:53 對比
太陽能電池和組件在線檢測系統(tǒng)：PV-LIT
產(chǎn)品介紹:PV-LIT太陽能電池和組件在線檢測系統(tǒng)可對太陽能電池及完整的太陽能組件的各種缺陷進行全自動檢測
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/13 11:07:12 對比
太陽能電池量子效率測試儀：PVE300
產(chǎn)品介紹:我公司銷售的PVE300是基于Bentham公司專業(yè)的技術(shù)及25年的行業(yè)經(jīng)驗，PVE300能夠快速并準(zhǔn)確的給出分析數(shù)據(jù)，是經(jīng)過市場檢驗的被廣泛應(yīng)用的的...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/13 11:05:57 對比
太陽能電池量子效率測試儀：PH-IQE200
產(chǎn)品介紹:PH-IQE200為太陽能電池光譜響應(yīng)測試，或稱量子效率QE（QuantumEfficiency）測試，或光電轉(zhuǎn)化效率IPCE(Monohromati...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/13 11:04:37 對比
AA*太陽能模擬器：SS50AAA-PLC
產(chǎn)品介紹:美國進口SS50AAA-PLC太陽模擬器是當(dāng)今高等級的太陽能模擬器，的用來模擬太陽輻照度和頻譜的設(shè)備
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:55:32 對比
太陽能電池I-V特性分析系統(tǒng)：PET-CC
產(chǎn)品介紹:太陽能光伏電池的所有性能表征手段中，IV特性測試無疑是最直觀、效、最被廣泛應(yīng)用的一種方法
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:53:25 對比
激光橢偏儀：PH-LE
多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù)，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有*的精確度和準(zhǔn)確度
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:51:29 對比
光譜橢偏儀：PH-SE
光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應(yīng)用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:49:44 對比
全自動光譜橢偏儀：PH-ASE
全自動光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動調(diào)節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準(zhǔn)是為了保證橢偏儀測量的可重復(fù)性和精確性
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:46:35 對比
無接觸少子壽命測試儀：HS-SIM
合能陽光無接觸少子壽命測試儀(MWR-SIM)，是一款功能強大的無接觸少子壽命測試儀，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點少子壽命測試，其...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:14:24 對比
金屬四探針電阻率方阻測試儀：HS-MPRT-5
產(chǎn)品介紹:陽光的金屬四探頭電阻率方阻測試儀（HS-MPRT-5）是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器....
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:13:08 對比
硅材料碳氧含量測試儀：HS-OCT-2000
產(chǎn)品特點：■適合于硅材料的氧、碳含量的測定
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:11:25 對比
硅片缺陷觀測儀：HS-WDI
產(chǎn)品介紹：硅片缺陷觀測儀(HS-WDI)，于對硅片的缺陷進行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:09:50 對比
半自動無接觸硅片測試儀：HS-NCS-200SA
半自動無接觸硅片測試儀(HS-NCS-200SA型)可以測量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度、翹曲度、單點和總體平整度，該儀器適用于Si，GaAs，InP，G...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:06:55 對比
HS-NCS-200非接觸厚度電阻率測試儀
HS-NCS-200非接觸厚度電阻率測試儀一、測試原理1、電阻率測試探頭原理電阻率測試模塊是由一對共軸渦流傳感器，以及后續(xù)的處理電路組成
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 10:54:31 對比

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