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半導(dǎo)體質(zhì)量管控影像測量儀YXCL200幾何公差測量和傳統(tǒng)2D/3D尺寸測量如平面度、圓度、位置度、特征擬合、距離、角度等，強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力與算法，操作簡單便捷...
精密機(jī)械加工質(zhì)量管控影像測量儀YXCL200了幾何公差GD&T測量和傳統(tǒng)2D/3D尺寸測量，如平...
電路板質(zhì)量管控影像測量儀YXCL200集成了幾何公差GD&T測量和傳統(tǒng)2D/3D尺寸測量，如平面度、圓度、位置度...
三維復(fù)合式影像測量儀YXCL200產(chǎn)品集成了幾何公差GD&T測量和傳統(tǒng)2D/3D尺寸測量，如平面度、圓度、位置度、特征擬合、距離...
可測幾何量,三維多傳感器YXCL200產(chǎn)品集成了幾何公差GD&T測量和傳統(tǒng)2D/3D尺寸測量，如平面度、圓度、位置度、特征擬合、距離、角度等，強(qiáng)...
三維多傳感器測量系統(tǒng),YXCL200YXCL產(chǎn)品集成了幾何公差GD&T測量和傳統(tǒng)2D/3D尺寸測量，如平面度、圓度、位置度、特征擬合、距離、角度等，強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處...
CCCL01微納尺寸測量儀可用于印制電路板微切片、精密機(jī)械零件、晶圓刻蝕微結(jié)構(gòu)、光通訊器件、精密模具、磁性材料、精密沖壓、手機(jī)精密配件、醫(yī)療器械、鐘表、刀具、計(jì)...
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